• 2016-6-2

    您需要了解的跨阻放大器——第1部分

    跨阻放大器(TIA)是光学传感器(如光电二极管)的前端放大器,用于将传感器的输出电流转换为电压。跨阻放大器的概念很简单,即运算放大器(op amp)两端的反馈电阻(RF)使用欧姆定律VOUT= I × RF 将电流(I)转换为电压(VOUT)。在这一系列博文中,我将介绍如何补偿TIA,及如何优化其噪声性能。对于TIA带宽、稳定性和噪声等关键参数的定量分析,请参见标题为“ 用于高速放大器的跨阻抗注意事项 ”的应用注释。 在实际电路中,寄生电容会与反馈电阻交互,在放大...
    • 2016-1-7

    现在PurePath Console 3可以进行微调了!

    如果你听说过智能放大器的话,你也许想过,如何用音频使你的下一款产品在众多的竞争产品中脱颖而出。虽然你能够保证用诸如 TAS2555 智能放大器等器件设计、布局布线并且生产出印刷电路板 (PCB),不过使上市产品能够发出正确的声音似乎才是最最重要的。 别担心。 PurePath™ Console 3 软件套件 (PPC3) 能够用易于使用的图形化用户界面 (GUI) 和集成工具来打消你的这一顾虑。 全新一代 PurePath™ Control 3 软件套件结合了以下几个特性: 一个基于区块的GUI,以实现轻松导航。 可以加快学习曲线的应用程序内提示和实战演练。 针对扬声器特性化设置和调谐的逐步处理。 实时更新—无需查看最新版本...
    • 2016-1-5

    放大其所不能:头戴式耳机到底需要多大功率?(第1部分)

    这篇博文由 Bharath Vasan和我共同撰写。 当我们打算为头戴式耳机应用创建一个 运算放大器 时(最后选用的是 OPA1622 运算放大器),我们需要解决的第一个问题就是确定头戴式耳机需要的功率。 将头戴式耳机和扬声器想象为把输入电气功率转换为可闻输出功率的变换器。与所有处理相类似,这个将电声转换过程具有一个与之相关的效率问题。正如你有可能已经想到的那样,不同头戴式耳机类型的效率也是不一样的。总的说来,包耳式耳机的效率要低于入耳式耳机。 头戴式耳机厂商通常以特定输入功率下(通常为1mW)的声压级([SPL],单位为分贝)来表示他们产品的效率。例如,一个耳机厂商也许将他们耳机的效率标明为100dB/wM,你应该将这个值读为“1mW时为100dB”...
    • 2015-9-29

    忽视显而易见的东西:差分放大器的输入阻抗

    单片 差分放大器 是集成电路,包含一个运算放大器(运放)以及不少于四个采用相同封装的精密电阻器。对需要将差分信号转换成单端信号同时抑制共模信号的模拟设计人员而言,它们是非常有用的构建块。例如,图1所示的 INA134 目的是用作适合差分音频接口的线路接收器。 图 1 : INA134 差分线路接收器的简化内部原理图 虽然大多数设计人员都感觉这种简单的构件块用起来非常轻松惬意,但笔者还是发现在使用它们时有一个方面经常被忽视:差分放大器的两个输入端具有不同的有效输入电阻。笔者所说的“有效输入电阻”指的是由内部电阻器阻值和运放的运行产生的输入电阻。 图2展示了 INA134 的典型配置,具有标记的输入电压和电流以及内部运放输入节点处的电压...
    • 2015-9-28

    运算放大器测试基础第 4 部分: 测试运算放大器需要稳定的测试环路

    作者: Martin Rowe — 2012 年 5 月 11 日 在前几篇文章中,我们介绍了一些基本测试技术以及设计和测试运算放大器时会出现的误差源。我们建议您在根据最后这篇文章介绍的测试电路知识及使用进行任何设想之前,先阅读一下之前的几篇文章。 本文我们将介绍使用推荐测试电路时所涉及的补偿问题。如果测试电路中的环路不稳定,那它就没有用。在测试过程中要一直监控被测试器件测试环路的输出。如果环路发生振荡,而您不知道,您可能会报告不好的结果。更糟糕的是,您可能很晚才发现,而此时纠正该问题已经更难了。 自测试补偿 以最简单的形式看, 图 1 中的自测试电路实际上是一款增益为 1201 的闭环系统。如果将 R1 减小至 5kW,闭环增益就是 301。因此,它具有固有的稳定性...
    • 2015-9-28

    运算放大器测试基础第 3 部分: 可配置电路测试运算放大器

    作者: Martin Rowe — 2011 年 11 月 16 日 在本系列的 第 1 部分 中,我们为大家介绍了三种运算放大器测试电路:自测试电路、双运算放大器环路以及三运算放大器环路。这些电路有助于测试失调电压 (V OS )、共模抑制比 (CMRR)、电源抑制比 (PSSR) 以及放大器开环增益 (Aol)。在 第 2 部分 中,我们集中介绍了输入偏置电流测量。现在,我们将介绍适用于自测试电路与双运算放大器测试电路的电路配置。这两种电路可通过不同的继电器配置存在于同一款电路设计中。该电路有助于您使用任何最佳方法测试给定运算放大器。 图 1 至图 13 是基本组合电路。图中说明了如何通过打开和关闭继电器来选择所需的测试。 图 1 是整体测试电路。在图 2 至图 13...
    • 2015-9-28

    运算放大器测试基础第 2 部分: 测试运算放大器的输入偏置电流

    作者: Martin Rowe — 2012 年 2 月 6 日 在本系列第 1 部分《 电路测试主要运算放大器参数 》一文中,我们介绍了一些基本运算放大器测试,例如失调电压 (V OS )、共模抑制比 (CMRR)、电源抑制比 (PSSR) 和放大器开环增益 (Aol)。本文我们将探讨输入偏置电流的两种测试方法。选择哪种方法要取决于偏置电流的量级。我们将介绍器件测试过程中需要考虑的各种误差源。本系列的下篇文章将介绍一款可配置测试电路,其可帮助您完成本文所介绍的所有测量。 产品说明书通常为运算放大器的非反相输入与反相输入(i B+ 和 i B- )分别提供了一个偏置电流列表。这两个输入的区别就是输入失调电流 I OS 。在工作台上,您可能会忍不住使用 图 1a 中的电路来测试正输入偏置电流...
    • 2015-9-28

    运算放大器测试基础第 1 部分: 电路测试主要运算放大器参数

    作者: Martin Rowe — 2011 年 11 月 16 日 1979 年 1 月,《电子测试》发表了一篇文章称,一款单个测试电路可“执行对任何运算放大器全面检查所需的所有标准 DC 测试”(参考资料 1)。单个测试电路在那个时候可能够用,但今天并非如此,因为现代运算放大器具有更全面的规范。因此,单个测试电路不再包揽所有 DC 测试。 现在经常使用三种测试电路拓扑对运算放大器 DC 参数进行工作台及生产测试。这三种拓扑为 (1) 双运算放大器测试环路、(2) 自测试环路(有时称故障求和点测试环路)和 (3) 三运算放大器环路。您可使用这些电路测试 DC 参数,其中包括静态电流 (I Q )、电压失调 (V OS )、电源抑制比 (PSRR)、共模抑制比...
    • 2015-2-17

    运算放大器功率耗散的首要问题-II

    Thomas Kuehl 在将一个运算放大器设计成为全新应用时经常被问到的两个问题是: 他的功率耗散“典型值”是多少? 在我的第一个帖子进行了介绍。 他的功率耗散“最大值”是多少? 应该在目标电路中评估运算放大器的最大功率。我们假定放大器运行的第一种情况是这样的。我们将最低负载电阻R L 加载到输出上,正如OPA 316电气特性表中所列出的那样。这个表格中列出的值为2 kΩ(红色椭圆中的值)。 当V S 和 I Q 为最大值,并且输出被偏置到Vs+电源电压一半的dc电平时,将出现最大功率耗散。图2显示出 OPA316 被配置为单电源,非反向放大器。其输出正在驱动一个对地为2 kΩ的等效负载...
    • 2015-2-16

    运算放大器功率耗散的首要问题-I

    在将一个运算放大器设计成为全新应用时经常被问到的两个问题是: 他的功率耗散“典型值”是多少? 他的功率耗散“最大值”是多少? 大多数情况下,这些问题连同那些与器件多种热阻抗特性相关的其他问题一同被提出来。这些问题是被用来测量器件功率处理能力的标准题库中的一部分,并且有助于暴露所有可能存在的长期可靠性问题。