你好:
我公司使用TLC5617 DA芯片输出,作为4-20ma及 0-10V输出的信号源,电路为典型的DA输出加运放的结构,使用射频信号进行干扰实验后,DAC的输出发生较大变化,模拟电路使用单点接地,后接运动跟随电路进行阻抗变换。试过多种线路布局,换过电容、加过磁珠,加过共模电感,以及周围电路用铜箔屏蔽,无论如何,反复试验,5617后级不管浮空还是接运放跟随电路,5617在受到射频干扰后输出电压波动均超过10%。严重影响整个设备的可靠性,请问是否有解决方案。
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我公司使用TLC5617 DA芯片输出,作为4-20ma及 0-10V输出的信号源,电路为典型的DA输出加运放的结构,使用射频信号进行干扰实验后,DAC的输出发生较大变化,模拟电路使用单点接地,后接运动跟随电路进行阻抗变换。试过多种线路布局,换过电容、加过磁珠,加过共模电感,以及周围电路用铜箔屏蔽,无论如何,反复试验,5617后级不管浮空还是接运放跟随电路,5617在受到射频干扰后输出电压波动均超过10%。严重影响整个设备的可靠性,请问是否有解决方案。
最初也怀疑基准和电源上的干扰,但基准信号及电源实测波形在受干扰时也相当稳定,几乎没有变化,似乎仅仅是芯片本身问题,管脚仅OUA和OUTB输出同时有较大波动