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DC-DC产品带插座测问题

Other Parts Discussed in Thread: TPS50601-SP, TPS62065, TPS54610

我是一名IC测试厂的工程师,在测试DC-DC芯片时,有客户要求是闭环测试。即控制器芯片加外围电感,电容等构成完整的闭环进行测试。测试时,当负载较大时电路容易烧毁或者电路功能异常。分析是插座的寄生ESL和ESR引起的,有没有做过类似产品测试的大牛,行业内DC-DC芯片都是闭环测试的吗。个人感觉闭环测试的方法是有问题的。

  • Hi
    电源需要软开关启动,不要存在带电插拔(不清楚你提到是插座,是怎么个启动法)
    你提到的寄生电感之类,如果电源输入到板子之间有较长导线,并且导线的寄生电感比较大,那么在瞬态启动时因为较大的瞬态电流变化会在输入产生较大的spike,有可能导致芯片过压而烧坏芯片。一般做法是芯片板子上输入端增加一个较大电容例如100uF,消除这个震荡。
  • 用插座测IC?如何批量工业测试呢?建议上图。
  • 测试像TPS54610和TPS62065,TPS50601-SP这类功率管内置的DC-DC控制器,芯片放在SOCKET里面,外围电感、电容放在SOCKET外面,不存在带电插拔。带负载时工作异常,PWM波形异常,去掉SOCKET,直接焊接上去一切都正常。说明板子本身是没有问题的,测试SOCKET也是专门定制的pogo pin,8A电流肯定没问题。我已经在离SOCKET最近的地方焊了220uF的电容。

  • 这样的接触方式,能保证各管脚都接触牢靠吗?特别是电流较大,这种方式我觉得还不如不测。
  • 如果你芯片焊接上测试没有问题,带socket有问题,建议你问下socket厂家他们管脚上的寄生参数

    另外你是测到多大电流时开始不正常,如果在大电流情况下更为明显,说明你的socket的寄生,焊接或者接触有问题

  • 测试SOCKET采用POGO PIN结构,pin寄生电阻40毫欧,寄生电感0.5nH,单pin最大电流4A。SOCKET中电路空载工作正常,带载1A以上出现开关波形异常。怀疑是寄生参数影响了电路的闭环传递函数,使环路模型改变。现在BUCK电路基本就分单纯控制器,功率管内置DC-DC,电源模块这几类。控制器采用开环直接测试,不存在疑问;电源模块本身就是闭环,测试也不存在疑问。所以像这类功率管内置的DC-DC电路如果采用开环测试,测试不全面,如果搭外围电感、电容构成闭环测试又容易出问题。所以这类电路是不是就不能搭外围,构成闭环进行测试?