<?xml-stylesheet type="text/xsl" href="https://e2echina.ti.com/cfs-file/__key/system/syndication/rss.xsl" media="screen"?><rss version="2.0" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/" xmlns:slash="http://purl.org/rss/1.0/modules/slash/" xmlns:wfw="http://wellformedweb.org/CommentAPI/"><channel><title>输入电容——共模？差模？</title><link>/blogs_/b/analogwire/posts/51442</link><description>作者: TI专家 Bruce Trump 
 翻译: TI信号链工程师 Michael Huang (黄翔) 
 
 运放的输入电容参数经常使人困惑或是忽略。现在让我们明确这些参数怎样才是最好的应用。 
 运放电路的稳定性受输入电容的影响，它在反向输入端引入了一个相移，即到达反向输入端的反馈支路的延迟。反馈网络受输入电容影响形成了一个不想要的极点。引入输入电容来计算反馈网络的阻抗特性是保证运放电路稳定性的重要一步。但是，哪种电容有影响？差模电容？共模电容？还是都有？ 
 运放输入电容一般可以在输入阻抗参数一栏找到</description><dc:language>zh-CN</dc:language><generator>Telligent Community 13</generator><item><title>回复:输入电容——共模？差模？</title><link>https://e2echina.ti.com/blogs_/b/analogwire/posts/51442</link><pubDate>Thu, 06 Jun 2013 13:50:02 GMT</pubDate><guid isPermaLink="false">91561404-af28-475a-b96b-cb6cbaadd097:a29f2aad-9d26-4423-b22a-4d2dc3879e5d</guid><dc:creator>kai guo</dc:creator><slash:comments>0</slash:comments><description>&lt;p&gt;这篇文章写得真好，很有用。尤其翻译的很到位。&lt;/p&gt;
&lt;img src="https://e2echina.ti.com/aggbug?PostID=51442&amp;AppID=102&amp;AppType=Weblog&amp;ContentType=0" width="1" height="1"&gt;</description></item></channel></rss>