<?xml-stylesheet type="text/xsl" href="https://e2echina.ti.com/cfs-file/__key/system/syndication/rss.xsl" media="screen"?><rss version="2.0" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/" xmlns:slash="http://purl.org/rss/1.0/modules/slash/" xmlns:wfw="http://wellformedweb.org/CommentAPI/"><channel><title>运算放大器测试基础第 1 部分： 电路测试主要运算放大器参数</title><link>/blogs_/b/analogwire/posts/52102</link><description>Other Parts Discussed in Post: OPA369 作者： Martin Rowe — 2011 年 11 月 16 日 
 1979 年 1 月，《电子测试》发表了一篇文章称，一款单个测试电路可“执行对任何运算放大器全面检查所需的所有标准 DC 测试”（参考资料 1）。单个测试电路在那个时候可能够用，但今天并非如此，因为现代运算放大器具有更全面的规范。因此，单个测试电路不再包揽所有 DC 测试。 现在经常使用三种测试电路拓扑对运算放大器 DC 参数进行工作台及生产测试</description><dc:language>zh-CN</dc:language><generator>Telligent Community 13</generator></channel></rss>