<?xml-stylesheet type="text/xsl" href="https://e2echina.ti.com/cfs-file/__key/system/syndication/rss.xsl" media="screen"?><rss version="2.0" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/" xmlns:slash="http://purl.org/rss/1.0/modules/slash/" xmlns:wfw="http://wellformedweb.org/CommentAPI/"><channel><title>运算放大器测试基础第 3 部分： 可配置电路测试运算放大器</title><link>/blogs_/b/analogwire/posts/52104</link><description>作者： Martin Rowe — 2011 年 11 月 16 日 
 
 在本系列的 第 1 部分 中，我们为大家介绍了三种运算放大器测试电路：自测试电路、双运算放大器环路以及三运算放大器环路。这些电路有助于测试失调电压 (V OS )、共模抑制比 (CMRR)、电源抑制比 (PSSR) 以及放大器开环增益 (Aol)。在 第 2 部分 中，我们集中介绍了输入偏置电流测量。现在，我们将介绍适用于自测试电路与双运算放大器测试电路的电路配置。这两种电路可通过不同的继电器配置存在于同一款电路设计中</description><dc:language>zh-CN</dc:language><generator>Telligent Community 13</generator></channel></rss>