<?xml-stylesheet type="text/xsl" href="https://e2echina.ti.com/cfs-file/__key/system/syndication/rss.xsl" media="screen"?><rss version="2.0" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/" xmlns:slash="http://purl.org/rss/1.0/modules/slash/" xmlns:wfw="http://wellformedweb.org/CommentAPI/"><channel><title>用集成驱动器优化氮化镓性能</title><link>/blogs_/b/power_house/posts/g-a-n</link><description>作者: 德州仪器设计工程师谢涌；设计与系统经理Paul Brohlin 
 导读： 
 将 GaN FET 与它们的驱动器集成在一起可以改进开关性能，并且能够简化基于 GaN 的功率级设计。 
 氮化镓 (GaN) 晶体管的开关速度比硅MOSFET快很多，从而有可能实现更低的开关损耗。然而，当压摆率很高时，特定的封装类型会限制GaN FET的开关性能。将GaN FET与驱动器集成在一个封装内可以减少寄生电感，并且优化开关性能。集成驱动器还可以实现保护功能 
 简介 
 氮化镓 (GaN</description><dc:language>zh-CN</dc:language><generator>Telligent Community 13</generator></channel></rss>