<?xml-stylesheet type="text/xsl" href="https://e2echina.ti.com/cfs-file/__key/system/syndication/rss.xsl" media="screen"?><rss version="2.0" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/" xmlns:slash="http://purl.org/rss/1.0/modules/slash/" xmlns:wfw="http://wellformedweb.org/CommentAPI/"><channel><title>一种C2000系列芯片的RAM在线诊断实现方法</title><link>/blogs_/b/the_process/posts/2000-ram</link><description>China Central FAE Sam Zhang

随着越来越多的工业应用对产品的可靠性和安全性要求越来越高，我们在做产品设计的时候不仅要正确的实现产品功能，同时也需要通过一些功能安全认证，比如家电行业的IEC60730等或者ISO13849等。一般的系统故障可以通过设计的迭代和严格测试来避免，但是硬件的随机失效理论上是无法完全消除的，所以要想提高硬件随机失效的诊断覆盖率，就需要软硬件诊断机制来保障。
作为系统的核心控制部分，MCU主平台的诊断机制就是最关键的部分。针对一般通用的MCU，以</description><dc:language>zh-CN</dc:language><generator>Telligent Community 13</generator></channel></rss>