<?xml-stylesheet type="text/xsl" href="https://e2echina.ti.com/cfs-file/__key/system/syndication/rss.xsl" media="screen"?><rss version="2.0" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/" xmlns:slash="http://purl.org/rss/1.0/modules/slash/" xmlns:wfw="http://wellformedweb.org/CommentAPI/"><channel><title>一颗“任劳任怨”的数字成像芯片</title><link>/blogs_/b/ti_dlp_/posts/52230</link><description>在德州仪器（TI）（纳斯达克代码：TXN）位于达拉斯的DLP&amp;#174;产品品质和开发测试实验室内，迈克道格拉斯负责一个有点儿“疯狂”的任务——“虐待” 数字微镜器件 （DMD） 。一颗颗DMD们身处电器噪声之中，经受着测试板和工作站的一连串操作和单击——这可比任何的真实使用环境恶劣多了。 
 
 
 在实验室的一个区域里，DMD被通电而震动，以测试其耐受性——毕竟DMD是微型机械电子系统 （MEMS）的一种。而在走廊对面，在一个有点儿类似于肉类冷库的地方，芯片则被冷却到零下55摄氏度。一个专业的烤架则会将芯片一次性加热到125摄氏度并持续长达数星期</description><dc:language>zh-CN</dc:language><generator>Telligent Community 13</generator></channel></rss>