BQ76200控制的放电MOS一直打嗝,直到负载移除一段时间后才恢复

  1. 这个问题是量产遇到的,目前不好复现,正常情况下不会出现问题,所以可能是哪些参数设计的不太合理,请大家帮看下
  2. 因为获取的是终端客户的数据,所以现在复现到的只是类似客户遇到的现象。
  3. 放电口断开,AFE保护芯片进入深休,CHG_EN和DSG_EN输出低电平;放电口连接,AFE保护芯片从深休唤醒,CHG_EN和DSG_EN输出高电平。
  4. 测试方法:在插拔机上按照设定好的频率进行插拔。轻负载一直打开着。
  5. 抓取到的BQ76200上VDDCP,PACK,CHG,DSG引脚(示波器探头的地都是接的电池包的B-)的电压波形,还有B+/B-,P+/P-之间的电压波形。从波形上看时间间隔都是20ms
  6. 我已经查看了VDDCP上2.2uf电容的温度、电压特性曲线,再结合测试情况,基本可以排除温电容容值变化的影响;放电MOS的GS脚之间的16V稳压管也不存在漏电情况,稳压管去掉后MOS打嗝现象仍然存在,而且万用变串在稳压管回路上也测不到电流。
这个内部原理框图(特别是红圈部分),文档里没看太明白它的工作机制,能否帮忙解释下,通过哪些可能的回流路径才能造成我们抓到的这个现象,又有什么好的解决方法?

异常时候各点波形(都是探头负极接B-测试的):

  • 76200 PACK引脚上波形
  • B+/B-电压
  • CHG脚电压(CHG_EN此时正常输出11V)
  • DSG脚电压(CHG_EN此时正常输出11V)
  • VDDCP脚电压
  • P+/P-电压