你好，想请教两个问题：
1.目前想通过6843芯片所支持的板卡做SAR成像处理。但是现在录取的数据做距离向FFT后会存在负距离向的值。并且负距离像的值是正距离向的值的近似镜像和衰减关系。SAR成像的处理过程中的成像距离向平面是没有负距离向的。请问这点应该怎么等效到SAR成像平面，或者说这个数据我应该怎么改变采集设置，使得录取的数据不存在负距离向的数据值，使我能够和实际的成像平面匹配。
2.录取数据是直接做的Dechrip吗，如果是的话所选取的的参考距离是什么？
你好，想请教两个问题：
1.目前想通过6843芯片所支持的板卡做SAR成像处理。但是现在录取的数据做距离向FFT后会存在负距离向的值。并且负距离像的值是正距离向的值的近似镜像和衰减关系。SAR成像的处理过程中的成像距离向平面是没有负距离向的。请问这点应该怎么等效到SAR成像平面，或者说这个数据我应该怎么改变采集设置，使得录取的数据不存在负距离向的数据值，使我能够和实际的成像平面匹配。
2.录取数据是直接做的Dechrip吗，如果是的话所选取的的参考距离是什么？
user6332960 说：1.目前想通过6843芯片所支持的板卡做SAR成像处理。但是现在录取的数据做距离向FFT后会存在负距离向的值。并且负距离像的值是正距离向的值的近似镜像和衰减关系。
你说的“录取的数据”就是采集的ADC原始数据，对吧？请问你的ADC数据设置的是real么? 设置为complex 1x采样，就不会有负距离的值。
你可以参考下面的白皮书了解更多信息：
Using a complex-baseband architecture in FMCW radar systems
user6332960 说：2.录取数据是直接做的Dechrip吗
你说的dechirp是什么意思？
