LP2985-相噪恶化

各位大神好,

客户在使用LP2985-3.3和LP2985-4.0做OCXO时,在相噪测试中发现1hz恶化10dB,在10Khz恶化10dB;

系统介绍:

系统采用5V供电,通过LP2985-4.0产生4.0V(使用电流<100mA),之后通过LP2985-3.3产生3.3V(使用电流5mA)

LP2985-4.0:位于恒温槽外,工作环境温度为室温;

LP2985-3.3:位于恒温槽内,OCXO正常工作时恒温槽温度95°c;

测试环境:

1:供电环境:分别采用DC-SOURCE和锂电池供电做相噪测试;

测试结果:

1:供电引起差异测试:在采用DC-SOURCE供电和锂电池供电,OCXO相位噪声跟原测试数据(FA-SAMPLE和OK-SAMPLE)基本一致;

2:对调测试:在仅仅只对调FA-SAMPLE和OK-SAMPLE上的LP2985后,现象跟芯片走;

3:调节Cbypass和Cout电容:增大或减小Cbypass和Cout,问题现象基本一致;

4:由于没有高精度示波器,无法抓取uv级的输出纹波波形,采用6位半万用表测试发现,OK-SAMPLE在LP2985-3.3从环境温度升高过程中,其输出电压线性变化(0.02xmv级);同样测试FA-SAMPLE发现,其输出电压出现来回波动(0.1xmv级)

BTW:

1:LP2985-客户已经使用十余年,以前从未出现类似问题,该批次在其它机型也会出现类似问题,包含以前量产机型;

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