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TPS63020电路在老化的时候出现L1对地短路

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TPS63020电路在老化的时候出现L1对地短路

电路图如下:

输入电压:5V;输出3.3V@300mA 为节能采用对外脉冲式输出:输出电压波形如下

正常使用的时候,设备电路正常,一旦加入高温箱后,温度大于50℃以后,出现随机短路现象。单独使用电池供电没问题,一旦使用老化车供电,多台设备一起连接在一起,就会随机出现芯片L1对地短路现象,请帮我分析一下原因,谢谢。

  • TPS63020电路在老化的时候出现L1对地短路

    电路图如下:

    输入电压:5V;输出3.3V@300mA 为节能采用对外脉冲式输出:输出电压波形如下

    正常使用的时候,设备电路正常,一旦加入高温箱后,温度大于50℃以后,出现随机短路现象。单独使用电池供电没问题,一旦使用老化车供电,多台设备一起连接在一起,就会随机出现芯片L1对地短路现象,请帮我分析一下原因,谢谢。

  • Hi
    在老化车上用示波器监控一下VIN电压波动的情况? 以及有电流勾表也确认一下负载的变化情况?
    前者是确认输入是否因为寄生参数(L)造成较大的输入spike烧掉芯片,后者是确认负载如果存在波动,电感在温度升高的情况下是否会饱和?
  • 你好!
    在老化车内Vin的电压波动很小基本不变,电流仅有峰值脉冲,整个过程芯片没有温升,在芯片的输入端我是用10uF/35V和0.1uF/25V,减少寄生参数的影响,我现在担心的是:在高温条件,电感的Q值高会不会造成对此L1致命的损伤。
    还有就是哪些因素可以致使L1对地短路,也就是体能的N-MOSFET 损坏。
    目前100套产品中,25套TPS63020 L1对地短路,非常严重,最重要是我的负载非常轻300mA,因此我判断温度对芯片本身不会造成影响,主要是电感使用的线艺的电感 XFL4020 1.5UH @10KHZ下测试Q=8,高温无法测试到其电感值,所以现在不确定是否是由于电感造成的致命伤害。
  • 老化车带一台设备老化会不会出问题?还是怀疑多台一起工作相互尖峰干扰造成的,你在多态并联老化时,每台输入线上穿个磁环试试。看是不是损坏率下降。
  • 您好!
    关于您说的这个方案我们已经测试过,独立供电不会产生损坏,多态并联时候会出现,并联磁环的这个方案可以解决EMI,但是本质上芯片L1出现如此高的损坏,直接的原因还未查出,我目前最关心的就是什么因素会造成L1对地短路。谢谢
  • 并联磁环不仅仅是解决EMI,是防止相互产生的尖峰造成内部器件损坏,按照你的情况,应该是器件再原边产生的噪声造成另外电路损坏。

  • 你好!

        你说的这个情况,我已经测量的输入端的和输出端的电压波形,并未出现您所说的尖峰电压,