我司采用贵公司(arm与dsp)双核处理芯片TMS320DM6467TCUT1,三星SDRM:K4T1G164QF-BCE7, Micron(美光半导体)的NAND FLASH:MT29F1G08ABAEAWP的架构方案设计;
系统板图
NAND FLASH原理图
出货数量 |
约3000块 |
累计统计故障数量 |
约15块 |
程序烧写方式 |
串口方式烧写程序 |
故障现象 |
正常工作的产品断电,重新上电后,系统宕机,且通过复位不可以正常启动 |
已确定问题点 |
系统引导区uboot直接损坏,nand flash中程序损坏 |
实验描述 |
将4套(1-4号)样机程序烧写频繁读写FLASH的程序,另4套(5-8号)样机烧写原有程序,在高温55度(加速老练)下,频繁的启停开关电源(约3分钟一个周期),试验时间为一周,有1台(1号)出现该故障现象(上电2小时后重新),重新烧写后,再次运行一周后,均未出现宕机现象。 |
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