硬件:
1: 我们用TI官方的TMS570LC4357 DEMO板和SafeTI Diagnostic Library的DEMO程序做实验(我们的自研板也有同样问题)
问题:
1:发现电脑连接TMS570LC4357 DEMO板进行DEBUG调试时,TMS570LC4357芯片的nERROR引脚自动被激活(低电平),表现为DEMO板ERROR灯被点亮。
2:同时SafeTI Diagnostic Library在sl_priv.c文件的_SL_HoldNClear_nError()函数内,进入while(TRUE == SL_ESM_nERROR_Active())的死循环,SafeTI Diagnostic Library无法进行安全自检。
3:我们通过查找TMS570的勘误表,第56条有个错误描述:“DEVICE#56 nERROR assertion on debugger connect”。解决方法是:“Clear the nERROR by writing 0x5 to the ESMEKR key register in the ESM module and ignore the nERROR pin toggle which happens immediately upon the debugger connecting.”。但是SafeTI Diagnostic Library的DEMO程序源码里面其实有对ESMEKR写入0x5的操作,实际也是无效的。
求助:
如何解决TMS570LC4357芯片在调试模式不能运行安全自检库的问题呢?非常感谢!