hi,all
现在我碰到一个问题麻烦帮忙解决下,我设计了一款产品(基于CC2640R2F),同一批次6个产品中发现有2个产品TX,RX都为低电平,测量此时的晶振不起振,用我们的软件验证,发现一个大概率的出现该现象,一个是小概率,但都能正常烧入软件;但用了BLE5_HOST_TEST 软件验证,百来次都没出现该现象。
多次更换晶振,该现象没改善,测得供电正常以及DCDC_SW为1.68V。
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多次更换晶振,该现象没改善,测得供电正常以及DCDC_SW为1.68V。