测试有效位数(ENOB),需要测试SINAR,都是使用相干采样,采集整数周期的信号,然后进行FFT频谱分析计算,信号频谱为一根线。
如果使用非相干采样,必须加窗处理,信号频谱会展宽,幅度会下降,那么需要统计信号周边几个点来当做信号的能量呢?即便是这样,ENOB的性能也没有同步相干采样好吧? 有人研究过这个问题吗?
TI一般使用相干采样测试还是非相干采样测试
This thread has been locked.
If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.
测试有效位数(ENOB),需要测试SINAR,都是使用相干采样,采集整数周期的信号,然后进行FFT频谱分析计算,信号频谱为一根线。
如果使用非相干采样,必须加窗处理,信号频谱会展宽,幅度会下降,那么需要统计信号周边几个点来当做信号的能量呢?即便是这样,ENOB的性能也没有同步相干采样好吧? 有人研究过这个问题吗?
TI一般使用相干采样测试还是非相干采样测试
TI的高速的ADC有一个免费评估软件叫HSDC Pro
http://www.ti.com/tool/dataconverterpro-sw?keyMatch=hsdc%20pro&tisearch=Search-EN-Everything
安装后你就会发现
它提供了两种方法,相干采样和非相干采样