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ADC有效位测试

Other Parts Discussed in Thread: DATACONVERTERPRO-SW

测试有效位数(ENOB),需要测试SINAR,都是使用相干采样,采集整数周期的信号,然后进行FFT频谱分析计算,信号频谱为一根线。

如果使用非相干采样,必须加窗处理,信号频谱会展宽,幅度会下降,那么需要统计信号周边几个点来当做信号的能量呢?即便是这样,ENOB的性能也没有同步相干采样好吧? 有人研究过这个问题吗?

TI一般使用相干采样测试还是非相干采样测试