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您是否正在使用2个 Xilinx JESD IP、每个 IP 有8个信道?在这种情况下,每个 IP 将生成256位的输出。 斜坡测试模式生成八位位组斜坡(8位值),而不是采样值斜坡(12位值的斜坡)。
建议将 ADC 设置为传输层测试图形模式。者可以让您轻松了解通道数据如何映射到样本,因为帧中的每个样本都有一个恒定的12位值。 此值可在datasheet中的" N 的短传输测试模式= 12模式"表41中找到。
上图是我们使用传输层测试模式生成的图像,目前这个模式下没有问题,但是在采样正弦波时,会出现波动的情况,
目前是使用JMODE1, 在FPGA中使用2个IP核,从FPGA的IP核输出的256位数据到样本的映射分为:
jesd204_0_example_design_1 -> out_data[256:0] ->S0,S2,S4.......S76,S78
jesd204_0_example_design_2 -> out_data_2[256:0] ->S1,S3,S5.....S77,S79
目前看来有点问题,请问哪里需要改正,
您好,非常感谢您的解答,我们重新阅读了器件手册,发现是之前的一个设置没有做好,目前有了稍微正常的采样,但是还是有问题,可否再次询问一下?
上图是部分采样点,看起来交替起伏,我们估计是采样的校准未做好,目前的校准配置如下:
0:dout<=24'h0000B0; ///***///进行软复位 之后延迟100ms
//时钟50MHz 20ns * 5000 = 100 ms
5001: dout<=24'h020000; ///***///清除 JESD_EN (始终在 CAL_EN 之前)
5002: dout<=24'h006100; ///***///清除 CAL_EN (始终位于 JESD_EN 之后)
5003:dout<=24'h020101;//jmode
5004:dout<=24'h020203;//km
5005:dout<=24'h020301; //非零 即使用 软同步
5006:dout<=24'h020400; //00 01
5007:dout<=24'h020500; //设置JTEST
5008:dout<=24'h0030FF; //设置量程
5009:dout<=24'h0031FF;
5010:dout<=24'h0032FF;
5011:dout<=24'h0033FF;
5012:dout<=24'h002920;
5013:dout<=24'h002960;
5014:dout<=24'h002970; //////将SYSREF_SEL设置为0,使用SYSREF校准
5015:dout<=24'h02B104; //设置SRC校准参数
5016:dout<=24'h02B001; //启用SRC_EN
//5016:dout<=24'h004803; //将串行器预加重设置为3
5021:dout<=24'h006201; //使用foreground校准
5137:dout<=24'h02C11F; //Alarm Status Register
5138:dout<=24'h02C200; //Alarm Mask Register
5139: dout<=24'h006101; ///***///设置 CAL_EN (始终在 JESD_EN 之前)
5140: dout<=24'h020001; ///***///设置 JESD_EN (始终在 CAL_EN 之后)
5141: dout<=24'h006B00; //设置使用Calibration Software Trigger
5142: dout<=24'h006C00; ///***///将 CAL_SOFT_TRIG 设置为低电平以复位校准状态机
5143: dout<=24'h006C01; ///***///将 CAL_SOFT_TRIG 设置为高电平以启用校准 ,
目前0X02C 02D 02E 寄存器的读出分别是 C1 00 86 ,在器件手册中 表 7. Examples of SYSREF_POS Readings and SYSREF_SEL Selections,没有看到SYSREF_POS[23:0] 与 OPTIMAL SYSREF_SEL SETTING 相应的映射,
目前0X2B2 2B3 2B4寄存器的读出分别是 15 4D 02, 表明SRC_DONE 未完成,
目前0X06A寄存器读出是 08,表明FG_DONE 始终未完成,
请问是什么原因?请问有相应的自动foreground校准的配置代码吗?