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https://e2e.ti.com/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/1096972/opa818-opa818-noise-current-increase
我有一个具有50k互阻抗的TIA配置。 我有一个噪音电流源，它是在某个时间点出现的一些2PA/RHZ。
ESD是否会在以下情况导致噪音增加：
1-电路中的RF仍测量50k (无明显分流)
2-Voo (输出偏移电压)仍为0.3mV (无明显的输入电流泄漏)
您好，Bruno：
是的，ESD损坏可能会导致噪音增加。
无法解释的噪音的另一个原因是由于探测器电容过高和/或反馈电容(相引线电容)过小和/或OPAMP输出电容负载过高而导致的不稳定而产生的振荡。
您能否显示示意图？
Kai
您好，Kai
凭借超过40年的TIA设计，我可以向您保证稳定性不是问题。 几个月前，电路在-55C到+85C之间保持稳定，噪声低。 我确实倾向于ESD损坏，因为涉及到新的CM和装配后的房屋。 尽管输入门没有显示损坏(高阻抗，正常Vio，正常供应偏差)，但您认为损坏可能会进一步进入影响噪声的运算放大器，而不是输入级，请确认！
此致，Bruno
当芯片被ESD撞击时，这不一定会导致完全破坏。 甚至可以观察到任何参数的轻微退化。 损坏范围从0 % 到100 %。 一切皆有可能。
也可能是ESD电池-在保护芯片上更多内部电路的同时-受损(部分或完全)并使输入级的JFET未受损。 然后，噪音增加可能来自损坏的ESD电池，而不一定来自JFET本身。
输入偏置电流的不可解释的增加和噪音的增加是ESD的典型影响。
预损坏是电子设备制造商最糟糕的情况。 预损坏的芯片在出厂时通过了质量控制，之后在客户处出现故障。
OPA818 (与许多其它运算放大器一样)只能承受相当有限的ESD事件。 2.5kV HBM仅足以处理芯片(装配，焊接等)，但不能用于在实际环境中观察到的大量ESD事件，在这种环境中，必须承受8kV ESD及更多的电压。 这只能通过额外的ESD保护措施来管理。
