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工具与软件:
您好!
在使用该器件测试多个新的 PCB 时、一小部分电路表现出不稳定、如随附的视频所示。 布线为 DCDC_OUT (高侧)、以 HGND 为基准。 并且它在一个稳定的3.6V 和出现在200us 至400uS 范围内的振荡之间交替、并且具有~1V 的 P-P (垂直刻度为2V/div)。 每当观察到这个振荡波形时、输出 OUTP 和 OUTN 随机跳变。 即使当 INP = INN = HGND 时、也会发生这种情况。
我们已经知道、我们的设计与数据表中的建议有两个偏差:
1.我们漏掉了 HLDO_IN 上的100nF 电容(数据表中图10-1所示的 C1)
2.旁路电容器位于电路板的另一侧、并使用过孔。
3.旁路电容器不是推荐的部件。 其中一个在 DCDC_OUT 上的额定电压为10V、全部为0402。
我在器件的引脚3和2之间添加了一个100nF 电容器、此电容器持续不稳定、但我认为稳定所需的时间较短。
那么、这些"违规行为"有多糟糕? 除了根据数据表完全重新调整布局之外、是否在其他设计中观察到了这种情况?是否有任何建议?
此致、Frank LaRosa
e2e.ti.com/.../DB2_5F005F00_SN1_5F00_IXA_5F00_DCDC_5F00_OUT_5F00_flaky.mp4