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部件号：TMS570LC4357 “线程： 测试”中讨论的其它部件
大家好，团队
对于我们基于 TMS570LC4357处理器的应用，根据我们的要求，我们正在尝试对 完整的内置512KB RAM 执行破坏性测试(不使用 PBIST)，并在内置 EEPROM 中配置测试结果。 根据我们的实施，我们尝试在 初始化 RAM 后执行内部 RAM 测试，在这种情况下，构建运行正常， 但由于该测试是在 PLL 之前执行的，因此我们无法在 EEPROM 中记录结果，因为 PLL 未设置且内部闪存未初始化； 但是，当我们尝试在 PLL ( 闪存也已初始化)后执行内部 RAM 测试时，我们发现 STC 自检未执行系统重置，因此构建未启动。
为此，我们希望了解执行 此测试的更好方法：
1.首先，我们必须在内部 RAM 上针对 PLL 运行此测试。 我们应该在设置 PLL 之前或 配置 PLL 之后运行此功能吗？
2.在 PLL 后执行 RAM 测试时，STC 自检是否存在任何不允许重置的关系？
3.如果我们希望在 PLL 之前执行 RAM 测试，那么在 EEPROM 中记录测试结果的更好方法是什么？
请求帮助我们更好地理解这一点，以满足这一要求。
此致，
Shivam
