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[参考译文] TMS570LC4357：FLA12：如何测试部件 A 和 B

admin
Guru**** 2466550 points


请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1087325/tms570lc4357-fla12-how-to-test-part-a-and-b

部件号：TMS570LC4357

各位专家：

在我的前一个问题中，我描述了我认为 Flash Paritys 可以被测试的方式。 我仍然不理解的是如何选择测试端口或端口 B

e2e.ti.com/.../tms570lc4357-fla12-how-to-execute-diagnostic

(Q1)如何选择端口 A 或端口 B 进行奇偶校验测试？

(Q2)在 FEDAC_PxSTATUS 中为命令奇偶校验错误设置了哪个错误位？

谢谢，致以诚挚的问候！
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    TI__Guru**** 2466550 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    [引用 userid="430202" url="~ë/support/icls/arm-based 微处理器-组/基于 ARM 的微处理器/f/基于 ARM 的微控制器- forum/1087325/tms570lc4357-fla12-How-to 测试-部件 A-and -b"](Q1)如何选择端口 A 或奇偶校验端口[引用]

    您可以使用 DIAG_BUF_ SEL (FDIAGCTRL 寄存器)选择缓冲区(端口 A 或端口 B)。  

    Diag BUF_ SEL = 0 -->端口 A

    Diag BUF_ SEL = 4 -->端口 B，用于空闲奇偶校验器

    [引用 userid="430202" url="~/support/icles/arm-based 微处理器组/基于 ARM 的微控制器/f/arm-based 微控制器-forum/1087325/tms570lc4357-fla12-How-to 测试-部件 A-and-b"](Q2)哪个错误位在 FEDUS_Parity 命令中设置为错误[引用 FAT]/STAC]

     位10将设置为命令奇偶校验错误和内部地址奇偶校验。 位17设置为空闲奇偶校验。