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[参考译文] TMDSEMU200-U:如何单独测试 XDS200 JTAG USB 探针(Blackhawk#39)并确认 JTAG Prbe 工作正常?

Guru**** 1090600 points
Other Parts Discussed in Thread: TMS570LS3137, TMDS570LS31HDK
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1122460/tmdsemu200-u-how-to-test-xds200-jtag-usb-probe-blackhawk-s-indipendently-and-confirm-jtag-prbe-is-working-fine

器件型号:TMDSEMU200-U
主题中讨论的其他器件:TMS570LS3137TMDS570LS31HDK

大家好、  

请告诉我如何独立测试此 XDS200 JTAG USB 探针(Blackhawk)?   

探针通过 USB 连接并在设备管理器中被识别。当我尝试测试连接时、我收到以下错误。

连接到目标时出错:
(错误-183 @ 0x0)
控制器本身检测到电缆断开。
用户必须将电缆/仓体连接到目标。 

我在输出连接器 TI-20引脚连接器(也使用 TI-14引脚适配器)上没有获得任何 TCLK。

我检查了论坛中的一些讨论、但对上述错误不清楚。

我可以获得一些帮助吗?

谢谢、此致、
Venugopal B
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    您好!

    该错误表示调试探针和目标之间的信号发生了一些中断。 由于这是一个电缆断开"远端"、这意味着问题发生在目标端的某个位置、其中探针的带状电缆与目标板上的 JTAG 接头连接。 此问题通常是由硬件连接问题引起的。  

    有关更多详细信息、请参阅以下链接:

    https://software-dl.ti.com/ccs/esd/documents/ccs_debugging_jtag_connectivity_issues.html#cable-break

    在文档中搜索错误代码"183"。

    谢谢

    Ki

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    您好!  

    感谢您的回答。

    我们已经尝试过上述链接中给出的建议、但仍然没有对 JTAG 探针进行任何改进。  

    即使我们没有从 JTAG 获取时钟(TCK)本身、它看起来也有问题。

    我们没有得到 Blackhawk 的支持响应。

    谢谢、此致、
    Venugopal B

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    [引用 userid="529045" URL"~/support/microcontrollers/arm-based microcontrollers-group/arm -based-microcontrollers/f/arm based-microcontrollers-forum/1122460/tmdsemu200-u-how-to-test-xds200-JTAG-USB-probe-Blackhawk-s-indicated-and-ctrade-chem-and-chem-chem-chem-chem-chem-chem-chem-chem-chem-fault/fault-we-fit-chem-chem-we-fit-we-we-we-we-fault-we-we-we-fit

    目标上的连接可能存在问题。 您是否有另一个探针可供尝试?您是否正在使用定制板?

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    我们没有任何其他探针可供检查。

    是的、我们使用的是定制板。 但是、在连接到定制板之前、我们不会从 JTAG 获取 TCLK 本身、也不会从 TDI 获取 TCLK。  

    它在探针上看起来存在线路故障。  

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    您还有其他电路板可以尝试吗? 更好的方法是使用 TI 板。

    您使用的是什么器件?

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    我们已经尝试过 TI 电路板(Hercules)、但它没有响应。  

    我们使用的是 TMS570LS3137。

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    这是您尝试过的 TI 电路板: https://www.ti.com/tool/TMDS570LS31HDK

    John

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    是的、我们已经尝试使用相同的电路板、并且使用了 TI20引脚转换器、但无法正常工作。  

    但它具有板载调试器、使用 USB 端口、通过参考上面 Hercules 板的原理图、我们刚刚将所有 JTAG 信号与控制器隔离、并尝试从主机 PC 连接、 这次、我们会遇到与 XDS200 USB 探针相同的错误、但这次我们监控了 TCK 和 TDI、我们能够看到一些信号、但我们没有看到 XDS200探针的这种响应。

       连接到目标时出错:

       (错误-183 @ 0x0)

      控制器本身检测到电缆断开。

      用户必须将电缆/仓体连接到目标。

    Asper 从 SDK 套件取得的进展我的理解是 XDS200必须将一些 TCK 和 TDI 发送到 Target、它将相应地做出响应。

    但我们没有看到任何 XDS200探针的响应。 我已经看到了 Ki 建议的一些支持链接、但没有从 Probe 中看到任何改进。

     我们使用小型限流电阻器检查了将 TVRef 连接到 I/O 电压、并尝试将 TDIS 连接到 GND。 (对于上述错误代码、建议在以下链接中执行此操作)。 在物理上、我们没有看到连接器或电缆有任何损坏、因此我们能够通过推荐提示符读取探头设备数据、并使用正确的探头序列号进行响应

    https://software-dl.ti.com/ccs/esd/documents/ccs_debugging_jtag_connectivity_issues.html#cable-break

    我首先需要知道为什么 XDS200探针没有 TCK?  

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    我不是一名硬件人员、因此我无法回答有关信号的大量问题、但我可以帮助我们缩小问题范围。

    我找到了 TMDS570LS31HDK 电路板。

    如果我创建目标配置并使用板载 XDS100v2、这就是我在测试连接时看到的内容:

      

    [Start: Texas Instruments XDS100v2 USB Debug Probe_0]
    
    Execute the command:
    
    %ccs_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafile% -rv -o -F inform,logfile=yes -S pathlength -S integrity
    
    [Result]
    
    
    -----[Print the board config pathname(s)]------------------------------------
    
    /Users/a0792138/.ti/ccs1200/0/0/BrdDat/testBoard.dat
    
    -----[Print the reset-command software log-file]-----------------------------
    
    This utility has selected a 100/110/510 class product.
    This utility will load the adapter 'libjioserdesusb.dylib'.
    The library build date was 'Jun 17 2022'.
    The library build time was '21:14:54'.
    The library package version is '9.8.0.00235'.
    The library component version is '35.35.0.0'.
    The controller does not use a programmable FPGA.
    The controller has a version number of '4' (0x00000004).
    The controller has an insertion length of '0' (0x00000000).
    This utility will attempt to reset the controller.
    This utility has successfully reset the controller.
    
    -----[Print the reset-command hardware log-file]-----------------------------
    
    The scan-path will be reset by toggling the JTAG TRST signal.
    The controller is the FTDI FT2232 with USB interface.
    The link from controller to target is direct (without cable).
    The software is configured for FTDI FT2232 features.
    The controller cannot monitor the value on the EMU[0] pin.
    The controller cannot monitor the value on the EMU[1] pin.
    The controller cannot control the timing on output pins.
    The controller cannot control the timing on input pins.
    The scan-path link-delay has been set to exactly '0' (0x0000).
    
    -----[The log-file for the JTAG TCLK output generated from the PLL]----------
    
    There is no hardware for programming the JTAG TCLK frequency.
    
    -----[Measure the source and frequency of the final JTAG TCLKR input]--------
    
    There is no hardware for measuring the JTAG TCLK frequency.
    
    -----[Perform the standard path-length test on the JTAG IR and DR]-----------
    
    This path-length test uses blocks of 64 32-bit words.
    
    The test for the JTAG IR instruction path-length succeeded.
    The JTAG IR instruction path-length is 6 bits.
    
    The test for the JTAG DR bypass path-length succeeded.
    The JTAG DR bypass path-length is 1 bits.
    
    -----[Perform the Integrity scan-test on the JTAG IR]------------------------
    
    This test will use blocks of 64 32-bit words.
    This test will be applied just once.
    
    Do a test using 0xFFFFFFFF.
    Scan tests: 1, skipped: 0, failed: 0
    Do a test using 0x00000000.
    Scan tests: 2, skipped: 0, failed: 0
    Do a test using 0xFE03E0E2.
    Scan tests: 3, skipped: 0, failed: 0
    Do a test using 0x01FC1F1D.
    Scan tests: 4, skipped: 0, failed: 0
    Do a test using 0x5533CCAA.
    Scan tests: 5, skipped: 0, failed: 0
    Do a test using 0xAACC3355.
    Scan tests: 6, skipped: 0, failed: 0
    All of the values were scanned correctly.
    
    The JTAG IR Integrity scan-test has succeeded.
    
    -----[Perform the Integrity scan-test on the JTAG DR]------------------------
    
    This test will use blocks of 64 32-bit words.
    This test will be applied just once.
    
    Do a test using 0xFFFFFFFF.
    Scan tests: 1, skipped: 0, failed: 0
    Do a test using 0x00000000.
    Scan tests: 2, skipped: 0, failed: 0
    Do a test using 0xFE03E0E2.
    Scan tests: 3, skipped: 0, failed: 0
    Do a test using 0x01FC1F1D.
    Scan tests: 4, skipped: 0, failed: 0
    Do a test using 0x5533CCAA.
    Scan tests: 5, skipped: 0, failed: 0
    Do a test using 0xAACC3355.
    Scan tests: 6, skipped: 0, failed: 0
    All of the values were scanned correctly.
    
    The JTAG DR Integrity scan-test has succeeded.
    
    [End: Texas Instruments XDS100v2 USB Debug Probe_0]

    如果我使用连接了20引脚适配器的 XDS200、我会看到这一点。

    下面是我的适配器的方向。  红线(1)靠近 SD 卡插槽。  我展示了这一点、因为 ARM20连接器没有键控、因此可以采用任何一种方式。

    [Start: Texas Instruments XDS2xx USB Debug Probe_0]
    
    Execute the command:
    
    %ccs_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafile% -rv -o -S integrity
    
    [Result]
    
    
    -----[Print the board config pathname(s)]------------------------------------
    
    /Users/a0792138/.ti/ccs1200/0/0/BrdDat/testBoard.dat
    
    -----[Print the reset-command software log-file]-----------------------------
    
    This utility has selected a 560/2xx-class product.
    This utility will load the program 'xds2xxu.out'.
    The library build date was 'Jun 18 2022'.
    The library build time was '03:06:08'.
    The library package version is '9.8.0.00235'.
    The library component version is '35.35.0.0'.
    The controller does not use a programmable FPGA.
    The controller has a version number of '13' (0x0000000d).
    The controller has an insertion length of '0' (0x00000000).
    This utility will attempt to reset the controller.
    This utility has successfully reset the controller.
    
    -----[Print the reset-command hardware log-file]-----------------------------
    
    This emulator does not create a reset log-file.
    
    -----[Perform the Integrity scan-test on the JTAG IR]------------------------
    
    This test will use blocks of 64 32-bit words.
    This test will be applied just once.
    
    Do a test using 0xFFFFFFFF.
    Scan tests: 1, skipped: 0, failed: 0
    Do a test using 0x00000000.
    Scan tests: 2, skipped: 0, failed: 0
    Do a test using 0xFE03E0E2.
    Scan tests: 3, skipped: 0, failed: 0
    Do a test using 0x01FC1F1D.
    Scan tests: 4, skipped: 0, failed: 0
    Do a test using 0x5533CCAA.
    Scan tests: 5, skipped: 0, failed: 0
    Do a test using 0xAACC3355.
    Scan tests: 6, skipped: 0, failed: 0
    All of the values were scanned correctly.
    
    The JTAG IR Integrity scan-test has succeeded.
    
    -----[Perform the Integrity scan-test on the JTAG DR]------------------------
    
    This test will use blocks of 64 32-bit words.
    This test will be applied just once.
    
    Do a test using 0xFFFFFFFF.
    Scan tests: 1, skipped: 0, failed: 0
    Do a test using 0x00000000.
    Scan tests: 2, skipped: 0, failed: 0
    Do a test using 0xFE03E0E2.
    Scan tests: 3, skipped: 0, failed: 0
    Do a test using 0x01FC1F1D.
    Scan tests: 4, skipped: 0, failed: 0
    Do a test using 0x5533CCAA.
    Scan tests: 5, skipped: 0, failed: 0
    Do a test using 0xAACC3355.
    Scan tests: 6, skipped: 0, failed: 0
    All of the values were scanned correctly.
    
    The JTAG DR Integrity scan-test has succeeded.
    
    [End: Texas Instruments XDS2xx USB Debug Probe_0]
    

    我的 XDS200来自 Spectrum Digital、但它应该与 Blackhawk 相同。

    如果您无法在 HDK 电路板上获得相同的结果、那么我会说您的 XDS200有问题。

    此致、

    John

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 John:  

    如上所示、我们已经尝试了测试连接方法、但无法从 Probe 获得任何响应。

    我们正遇到相同的错误、我们从未看到任何来自探头的 TCK 信号、因为我们在 E2E 论坛中提到了很多讨论。

       连接到目标时出错:

       (错误-183 @ 0x0)

      控制器本身检测到电缆断开。

      用户必须将电缆/仓体连接到目标。

     

    我们正在使用 Blackhawk 探测器、我们还向 Blackhawk 支持团队发送了邮件。 到目前为止、我们从未从他们那里得到任何回应。

    感谢您的建议、正如您所说、我们的 XDS200存在问题、我们必须提出客户退货请求。

    谢谢、

    Venugopal B