[参考译文] TMS570LC4357：FLA12空闲状态奇偶校验

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https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1107550/tms570lc4357-fla12-idle-state-parity-test

器件型号：TMS570LC4357

各位专家、您好！

我们实施了奇偶校验逻辑的 FLA12测试。但是、当我们尝试测试空闲状态奇偶校验时、不会发生任何情况。
我们尝试了此处建议的操作： e2e.ti.com/.../tms570lc4357-flash-parity-override-register-how-to-set-a-port-to-idle-state PAR_OVR_KEY#

但是、即使启用了诊断模式7和测试模式、也不会发生任何情况：

我们尝试了：

volatile uint32_t flashRead;
/* Enable diagnostic mode and select diag mode 7 */
/* DIAG_BUF_SEL [10:8] [10:8] = 0 : Port A selected to flip data/ECC */
/* DIAG_BUF_SEL = 4: Port B selected to flip data/ECC */
flashWREG->FDIAGCTRL = 0x00050007U;

flashWREG->FPAR_OVR = 0x00010000U;

/* enables the parity checking on the access */
flashWREG->FPAR_OVR |= 0x00005A00U;


flashRead = *(volatile uint32_t *) 0x00000008U;

/* disable diagnostic mode */
flashWREG->FDIAGCTRL = 0x000A0007U;

(Q1)运行此代码时、不会发生任何情况。我能不能说我们出了什么错？

谢谢、此致、
最大

3 年多前