[参考译文] TMDSEMU110-U：最近获取的探针无法通过 Simulink 在外部模式下运行

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请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1190450/tmdsemu110-u-recently-adquired-probe-unable-to-run-on-external-mode-via-simulink

器件型号：TMDSEMU110-U
主题中讨论的其他器件：C2000WARE

你好。

最近、在我的工作场所、我们要求使用两个新的 XDS110调试探针、总共有三个(一个是在几年前获得的)。

我们使用此器件来监控设计为通过 Simulink 和串行通信控制另两个高功率电路板的电路板。问题在于、新调试器无法连接到使用 F280048微控制器的电路板、而之前的调试器能够连接。

正如您在这张图片中看到的、第一个调试器运行时没有任何问题、我可以对其进行控制。

但是、对于任何新的调试器、我都会收到此错误。我不会更改任何内容(电缆、要加载的程序、串行端口上的设置、要使用的电路板)、只需更改调试器即可。

此外、所有这些器件都具有相同的固件版本。

我不知道是否需要对新调试器进行一些设置或更改才能正确使用它们。

我希望你能帮助我。

谢谢你。

1 年多前

0 admin 1 年多前

TI__Guru**** 655270 points

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您好、Alejandro、

对于使用 Simulink 进行调试、最好与 MathWorks 团队合作。我们没有资源支持 Simulink 调试问题。

但是、让我们确保您的新 XDS110仿真器在没有 Simulink 的情况下正常工作。

您使用的是 TI EVM 还是定制板？您能否运行任何 C2000Ware 示例并检查是否能够进行连接？

此致、Santosh

0 admin 1 年多前

TI__Guru**** 655270 points

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你好。

感谢您的支持。

我不习惯使用 TI 产品、您是否有任何指南可供您尝试使用 C2000Ware 中的示例？

不是 TI EVM、而是具有 UC F280048的定制板

0 admin 1 年多前

TI__Guru**** 655270 points

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您好、Alejandro、

在 CCS 菜单中、View -> Target Configuration

在目标配置视图中、创建新的目标配置。

将调试器选为 XDS110、然后选择您的器件、然后按"保存"按钮以保存目标配置。

现在单击'Target Configuration'、然后按'Test Connection"。

是否可以从控制台窗口发送消息？

此致、Santosh

0 admin 1 年多前

TI__Guru**** 655270 points

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你好。

我按照您的建议进行了测试。这是给我的结果

[Start: Texas Instruments XDS110 USB Debug Probe]

Execute the command:

%ccs_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafile% -rv -o -S integrity

[Result]


-----[Print the board config pathname(s)]------------------------------------

C:\Users\uiv03662\AppData\Local\TEXASI~1\
    CCS\ccs1220\0\0\BrdDat\testBoard.dat

-----[Print the reset-command software log-file]-----------------------------

This utility has selected a 100/110/510 class product.
This utility will load the adapter 'jioxds110.dll'.
The library build date was 'Nov 28 2022'.
The library build time was '16:30:46'.
The library package version is '9.10.0.00080'.
The library component version is '35.35.0.0'.
The controller does not use a programmable FPGA.
The controller has a version number of '5' (0x00000005).
The controller has an insertion length of '0' (0x00000000).
This utility will attempt to reset the controller.
This utility has successfully reset the controller.

-----[Print the reset-command hardware log-file]-----------------------------

The scan-path will be reset by toggling the JTAG TRST signal.
The controller is the XDS110 with USB interface.
The link from controller to target is direct (without cable).
The software is configured for XDS110 features.
The controller cannot monitor the value on the EMU[0] pin.
The controller cannot monitor the value on the EMU[1] pin.
The controller cannot control the timing on output pins.
The controller cannot control the timing on input pins.
The scan-path link-delay has been set to exactly '0' (0x0000).

-----[Perform the Integrity scan-test on the JTAG IR]------------------------

This test will use blocks of 64 32-bit words.
This test will be applied just once.

Do a test using 0xFFFFFFFF.
Scan tests: 1, skipped: 0, failed: 0
Do a test using 0x00000000.
Scan tests: 2, skipped: 0, failed: 0
Do a test using 0xFE03E0E2.
Scan tests: 3, skipped: 0, failed: 0
Do a test using 0x01FC1F1D.
Scan tests: 4, skipped: 0, failed: 0
Do a test using 0x5533CCAA.
Scan tests: 5, skipped: 0, failed: 0
Do a test using 0xAACC3355.
Scan tests: 6, skipped: 0, failed: 0
All of the values were scanned correctly.

The JTAG IR Integrity scan-test has succeeded.

-----[Perform the Integrity scan-test on the JTAG DR]------------------------

This test will use blocks of 64 32-bit words.
This test will be applied just once.

Do a test using 0xFFFFFFFF.
Scan tests: 1, skipped: 0, failed: 0
Do a test using 0x00000000.
Scan tests: 2, skipped: 0, failed: 0
Do a test using 0xFE03E0E2.
Scan tests: 3, skipped: 0, failed: 0
Do a test using 0x01FC1F1D.
Scan tests: 4, skipped: 0, failed: 0
Do a test using 0x5533CCAA.
Scan tests: 5, skipped: 0, failed: 0
Do a test using 0xAACC3355.
Scan tests: 6, skipped: 0, failed: 0
All of the values were scanned correctly.

The JTAG DR Integrity scan-test has succeeded.

[End: Texas Instruments XDS110 USB Debug Probe]

但我看不到任何可以发送消息的控制台。