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[参考译文] TMS570LS3134:闪存 EEPROM 仿真(FEE)问题

Guru**** 645850 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/921768/tms570ls3134-questions-for-flash-eeprom-emulation-fee

器件型号:TMS570LS3134

您好!

我的客户对 FEE (闪存 EEPROM 仿真)功能有疑问。

Q1)我们是否具有 EEPROM 中存储器内容的数据自检功能?
客户期望他们可以执行测试来检测生产线上损坏的存储器位。

Q2)假设测试检测到一个损坏的位、是否有软件函数来隐藏(失效)损坏的位(或行)以防止在应用程序中使用损坏的位?

谢谢、此致、
田志郎一郎

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    您好!

    1 、片上 FEE 内存由 SECDED ECC 诊断支持。 FEE SECDED ECC 控制器使用与主闪存存储器中使用的 ECC 算法;每64位数据采用8位 ECC。 所有 ECC 故障的检测在闪存包装程序内执行。 错误响应通过总线错误提供给 CPU 和一个错误信号提供给 ESM。 故障地址记录在闪存包装程序中。  

    另一种方法是使用 CRC 来测试 FEE 内容的完整性 、方法是计算所有 FEE 内容的 CRC 并将该值与之前生成的"黄金"CRC 进行比较。 读取到 CRC 的 FEE 内容可由 CPU 或 DMA 完成。

    2.在 RAM 中可以检测到位 ECC 错误并进行校正,只能检测到2位 ECC 错误。 但校正后的数据不会写入 FEE 内存。

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    您好 QJ、

    对于#2、我知道 RAM 中的1位错误已校正、并且检测到2位错误。
    客户询问我们是否有软件(或硬件)机制来屏蔽此类错误位位置。
    例如、标记此类位位置并避免在该位置之后使用它。

    谢谢、此致、
    田志郎一郎

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     您好、Koichiro、

    FEE 驱动器不具有此功能、无法将位置标记为 ECC 错误。