[参考译文] TMS570LS3134：闪存 EEPROM 仿真(FEE)问题

您好！

1 、片上 FEE 内存由 SECDED ECC 诊断支持。 FEE SECDED ECC 控制器使用与主闪存存储器中使用的 ECC 算法；每64位数据采用8位 ECC。 所有 ECC 故障的检测在闪存包装程序内执行。 错误响应通过总线错误提供给 CPU 和一个错误信号提供给 ESM。 故障地址记录在闪存包装程序中。  

另一种方法是使用 CRC 来测试 FEE 内容的完整性 、方法是计算所有 FEE 内容的 CRC 并将该值与之前生成的"黄金"CRC 进行比较。 读取到 CRC 的 FEE 内容可由 CPU 或 DMA 完成。

2.在 RAM 中可以检测到位 ECC 错误并进行校正，只能检测到2位 ECC 错误。 但校正后的数据不会写入 FEE 内存。

您好 QJ、

对于#2、我知道 RAM 中的1位错误已校正、并且检测到2位错误。
客户询问我们是否有软件(或硬件)机制来屏蔽此类错误位位置。
例如、标记此类位位置并避免在该位置之后使用它。

谢谢、此致、
田志郎一郎