主题中讨论的其他器件: TMDSPREX28335
您好!
我们有 TMDSHVMTRPFCKIT 可用于三相电机控制。 该套件工作正常、我能够使用 Piccolo 卡28035使电机以所需的速度旋转。
在我使用示波器测量4个 D/A 引脚中的一个之后、Piccolo 卡停止工作、我不再能够闪存软件或与其通信。
我将28035替换为 Delfino 28335。 我可以看到主板已通电、控制板也已通电、但我无法将代码下载到卡。
我认为笔记本电脑和 FTDI 硬件之间的通信可以正常工作、但 FTDI 可能无法刷写控制卡。
我使用嵌入式编码器开发代码、并从 Simulink 进行闪存。
- 测试连接:
C:\TI\ccs1020\ccs\ccs_base\common\uscif>xds100serial.exe
正在扫描 XDS100仿真器...
VID/PID 类型序列号说明
0403/a6d0 XDS100v1/v2 TI3GQTWK 德州仪器 XDS100+RS232 V1.0
- 尝试刷写控制卡上的代码时:
- 使用 Code Composer Studio 测试连接
[开始:德州仪器 XDS100v1 USB 调试探针_0]
执行以下命令:
%CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafil文件%-RV -o -F inform、logfile=yes -S pathlength -S integrity
[结果]
---- [打印电路板配置路径名]---------------
C:\Users\younesd\AppData\Local\TEXASI~1\
CCS\ccs1020\0\0\BrdDat\testBoard.dat
---- [打印重置命令软件日志文件]-----------------
此实用程序已选择100或510类产品。
此实用程序将加载适配器'jioserdesusb.dll'。
库构建日期为"2021年1月1日"。
库构建时间为'11:25:57'。
库软件包版本为'9.3.0.00032'。
库组件版本为'35.0.0'。
控制器不使用可编程 FPGA。
控制器的版本号为'4'(0x00000004)。
控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。
---- [打印重置命令硬件日志文件]-----------------
扫描路径将通过切换 JTAG TRST 信号进行复位。
控制器是具有 USB 接口的 FTDI FT2232。
从控制器到目标的链路是直接的(不带电缆)。
该软件配置为 FTDI FT2232功能。
控制器无法监控 EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监控 EMU[1]引脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的时序。
控制器无法控制输入引脚上的时序。
扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。
---- [用于从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]---
没有用于对 JTAG TCLK 频率进行编程的硬件。
---- [测量最终 JTAG TCLKR 输入的源和频率]----
没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。
---- [对 JTAG IR 和 DR 执行标准路径长度测试]-----
此路径长度测试使用64个32位字的块。
JTAG IR 指令路径长度测试失败。
JTAG IR 指令扫描路径卡在一个位置。
JTAG DR 旁路路径长度测试失败。
JTAG DR 旁路扫描路径卡在一个位置。
---- [对 JTAG IR 执行完整性扫描测试]-----
此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。
使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试:1、跳过:0、失败:0
使用0x00000000执行测试。
测试2字0:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字1:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字2:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字3:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字4:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字5:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字6:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字7:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
已提供前8个错误的详细信息。
该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试:2、跳过:0、失败:1
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试:3、跳过:0、失败:2
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试:4、跳过:0、失败:3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试:5、跳过:0、失败:4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试:6、跳过:0、失败:5
一些值已损坏- 83.3%。
JTAG IR 完整性扫描测试失败。
---- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试]-----
此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。
使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试:1、跳过:0、失败:0
使用0x00000000执行测试。
测试2字0:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字1:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字2:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字3:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字4:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字5:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字6:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字7:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
已提供前8个错误的详细信息。
该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试:2、跳过:0、失败:1
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试:3、跳过:0、失败:2
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试:4、跳过:0、失败:3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试:5、跳过:0、失败:4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试:6、跳过:0、失败:5
一些值已损坏- 83.3%。
JTAG DR 完整性扫描测试失败。
[结束:德州仪器 XDS100v1 USB 调试探针_0]
- 所用电路板的图像
请就此向我提供帮助。
谢谢你