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[参考译文] TMS320F2800137:诊断;闪存 ECC

Guru**** 1492485 points
Other Parts Discussed in Thread: C2000WARE
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1346943/tms320f2800137-diagnostic-flash-ecc

器件型号:TMS320F2800137
主题中讨论的其他器件:C2000WARE

您好、

在 C:\ti\c2000\C2000Ware_5_01_00_00\libraries\diagnostic\f280013x\examples\sdl_ex_flash_ecc_test

当我在断点执行步进时、我会更新 ECC 错误标志:failCOUT 更新为4、8、12、16

当没有断点时、failCOUT 始终为0。

注入错误与是否存在断点有什么关系吗?

此致

张安卡

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Anka:

    在调试此示例时、我看到当将整个示例配置为从 RAM 运行时、它看起来工作正常。 我将此反馈给我们的软件团队以调查该问题。

    与此同时、您可以使用28p65x_generic_ram_lnk_cpu1.cmd 链接器命令文件来创建新的"RAM"构建配置。 在此构建配置中、从预定义符号列表中删除"_FLASH"定义。 这将运行并正确设置 failcount 值。

    此致、
    伊袋