[参考译文] DAC3164：IO测试说明

Dan，您好！

是否有任何更新？

谢谢！

罗伊斯

您好，Royce，

在您指向的主题中，包含一个Power Point，帮助描述如何格式化输入模式文件以同时处理两个通道。

e2e.ti.com/.../4540.DAC3174-Pattern-Test-Feature.pptx</s>3174

如果您阅读最后一张幻灯片中的备注，其中提到(输入数据模式文件的)第一列将映射到通道A，第二列将映射到通道B

此外，根据数据时钟，无论您是在SDR还是DDR中操作，都不应影响模式测试的操作，因为DAC是一个使用去交错功能从输入数据模式中断开通道A/B的单一样本总线设备。 模式测试要求输入模式的样本0与同步的上升沿对齐，但不要求数据时钟。 从下面所示的数据表示意图中，您可以看到在去交错之前发生了模式测试。

此致，

丹

Dan，您好！

根据您所说的内容，应按如下所示应用双通道DDR模式(设置/保持时间未准确描述)。 请您确认吗？

您说：

模式测试要求输入模式的样本0与同步的上升沿对齐，但不要求数据时钟。

您能否详细说明"不需要数据时钟"的含义？ 看起来测试模式电路在数据时钟域中运行，因此需要运行数据时钟。

谢谢！

罗伊斯

您好，Royce，

很抱歉混淆了。 我试图引用DAC3154数据表，并打算说同步需要与样本0对齐，但数据时钟不需要。

此外，您能否与我分享您在哪里获得了数据时钟，同步和数据图？ 我认为如果它在数据表中就会有所帮助。

此致，

丹

Dan，您好！

我使用名为 WaveDrom的免费工具创建了计时图，下面是JSON。 图中是否正确描述了应如何应用测试图案？

{
标题：{文本："DAC3164 IO测试模式计时-双通道DDR模式"}，
信号：[
{name:'datacLKP/N'，wave：'N....'，period：2 }，
｛name：'sYNC'，wave：'01xxxxxx01x'，period：1，phase：1｝，
｛name：'data[11:0]'，wave：'=========== '，相位：1，数据：['PATT_7'，'PATT_0'，'PATT_1'，'PATT_2'， 'Patt_3'，'PATT_4'，'PATT_5'，'PATT_6'，'PATT_7'， 'Patt_0',},]
，
配置：{ hscale：2}

谢谢！

罗伊斯