主题中讨论的其他器件:、 LMK04828
我们的一个生产流程中使用的 ADC32RF45 IC 出现了问题。 我们将其用于12位旁路模式(LMFS = 82820)、并以2.8GSPS 的采样率进行采样。
当启用12位(LMFS = 82820)斜坡模式测试时、我们将收到斜坡数据、但该数据不正确。 经过进一步调查、我们发现除了交换的通道数据之外、数据没有任何问题。 我们确信问题与我们的测试设置无关、因为我们已将其用于成功测试许多其他 ADC32RF45 IC (包括验证12位斜坡模式)。
在进一步研究该问题时、我们启用了"根据 JESD204B 规范第5.1.6.3节的长传输层测试图形模式"、并验证我们可以正确接收该测试图形数据。 因此 、交换斜坡通道数据的原因似乎在于 ADC32RF45内部。
是否有人 在交换 ADC32RF45斜坡通道数据时遇到问题、 如果有、如何纠正此问题?