尊敬的所有人：
不清楚 SBAA222的 SET 部分(SEFI、SET、寄存器 SEU)中分析了哪些中断，以及哪些中断即使相关，也不被认为是相关的，对此我们没有数据。
表5与之相关？
表7与什么相关？
由于测试设置的行为、SEFI 横截面数据不可用？ 器件何时在辐照条件下复位？
请阐明在设置测试期间检测到和表征的多个错误源是什么。
您能否将表6中包含的数据与相关 中断(SEFI、SET、寄存器 SEU)链接起来？
我们需要根据您的回答、更好地了解测试内容以及是否需要重复一些设置测试。
非常感谢、
Emiliano
您好、Emiliano、
有几个我不理解的问题、也许您可以更概括地说？ 我也不是这类测试的专家、我的澄清问题可能是我缺乏更广泛的理解。 因此、我将会简单地回答、看看我是否可以帮助进一步澄清问题：
[引用 userid="521639" URL"~/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/1132669/ads1282-sp-set-section-in-radiation-report-sbaa222-october-2017 "]表5与之相关？
表7与什么相关？
[/报价]这些都位于单粒子瞬变(SET)部分、表5介绍了图14：寄存器翻转的横截面、表7介绍了图15：设置横截面中的形状。 如果您需要方程式、我想我可以向团队提问。
[引用 userid="521639" url="~/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/1132669/ads1282-sp-set-section-in-radiation-report-sbaa222-october-2017 ]SEFI 横截面数据不可用、因为测试设置的行为是什么？ 器件何时在辐照条件下复位？[/报价]不确定这是否相关、但每当我在表6中看到"Configuration Registers Reset"时、我假设 他们在谈论 SEFI 的 Set 部分中的以下文本(否则、应该已填写 Error 列)：
您能更具体吗？ 似乎他们在错误部分的前几句中定义了错误和错误事件的区别。 除非您想知道基准的实际值是多少。
除非您询问导致器件或示例错误的原因、此类错误通常包含在简介中：
如果我的理解有点基础、再次表示歉意。 在 与团队交谈之前、我需要确保了解实际的问题是什么。
谢谢、
Cole
