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器件型号:ADC088S022 您好!
我的客户将 ADC088S022用于其产品。
大约每20分钟发生一次丢失的数据位。
在 SCLK 高电平期间、DOUT 从高电平变为低电平。
您是否知道 DOUT 定时异常的原因?
此致、
Seishin
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您好!
我的客户将 ADC088S022用于其产品。
大约每20分钟发生一次丢失的数据位。
在 SCLK 高电平期间、DOUT 从高电平变为低电平。
您是否知道 DOUT 定时异常的原因?
此致、
Seishin
尊敬的 Tom:
很抱歉不能早点回来。
请查找随附的文档。
e2e.ti.com/.../ADC088S022_5F00_Waveform.pdf
PERT 编号:ADC088S022
测试条件:SCLK:1.5MHz (1周期=66.6us)
【正常】
SCLK ̄ ̄\__/ ̄ ̄\__/ ̄ ̄
DOUT___/ ̄ ̄ ̄ ̄ ̄ \____μ A
tDACC:(SCLK 下降沿之后的 DOUT 访问时间)
・数据表规格典型值为17ns 最大27ns
・观察到的值20ns-10ns=10ns
tDHLD:(SCLK 下降沿之后的 DOUT 保持时间)μ s
・数据表规格典型值4ns
・观测值40ns-10ns=30ns
【错误】
SCLK ̄ ̄\__/ ̄ ̄\__/ ̄ ̄
DOUT___/ ̄ ̄ ̄\______
tDACC:
・观察到的值20ns-10ns=10ns
tDHLD:
・观测值-320ns-10ns=-310ns
此致、
Seishin