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[参考译文] ADS8598H:AFE + ADC 偏移会从一个站点变化到另一个站点-这可以解释什么?

Guru**** 1135610 points
Other Parts Discussed in Thread: ADS8598H
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/1207445/ads8598h-afe-adc-offset-will-change-from-one-site-to-another---what-could-explain-this

器件型号:ADS8598H

您好、我们有一个使用18位 ADC ADS8598H 的原型、我们需要对其进行校准。

我们使用+-10V 的输入范围、并为单端模拟前端(AFE)增加3个运算放大器差分信号。  

我们需要通过较高的阻抗来隔离 我们需要为应用测量的4个双极独立信号。

我们需要同时对 ADC 的4个通道以及模拟前端(使用通道1、2、3和5)的增益和失调电压进行校准... 通道4、6、7和8下拉至模拟地)。

我们使用 Y = Mx +b 的经典线性校准

我们发现4个通道的增益"m"始终正常且稳定。  

为了找到每个通道的 AFE+ADC 失调电压、我们使用精密电压表产生了0V、读取的电压为0.000000133V。  

使用该电路(AFE + ADC)、我们可以读取正负500微伏范围内的偏移值。

问题与偏移有关。 4个通道将具有不同的偏移、具体取决于日期和环境。   

例如、有一天、我们在通道1上得到[-0.000687 V]的偏移、第二天、在类似的环境下、我们得到 [+0.0001526V]的偏移。

在完全相同的通道上、这完全处于相反的极性。

问题:

ADC 偏移应该始终相同(或几乎相同)吗?

如果需要、可以通过什么来解释我们在原型上观察到的失调电压变化?

其变化范围为数百微伏。

请查看随附的设计概述(请注意、原理图基于 ADS8586、但我们使用引脚和封装兼容的 ADS8598H)。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Pierre-Luc:

    您能否做一个小实验、直接在芯片上短接 ADS8598H 输入并验证失调电压?  您可以尝试对器件执行几次电源循环、以查看读数的一致性。  然后、您可以从 ADC 引脚通过差分级返回到单端级、在经过输入级返回到实际模拟输入时查看是否存在任何变化。  这将有助于确定 ADC 本身是在更改偏移、还是电路中是否存在其他因素导致了问题。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    感谢您发送编修。

    我发现了问题、这不是由 ADC 造成的。  

    如果它可以帮助任何面临类似问题的人、下面是我们的解决方案:

    我们在一个测试设置中获得了不同测试设置之间的一些失调电压差异、因为在一个测试设置中、注入 AFE+ADC 失调电压的0V 输入不与机箱接地相连。  在另一种配置中、输入连接到机箱接地。

    请记住、我们具有差分输入、因此在实践中、某些传感器将不会连接到系统接地。

    由于我们在应用中测量双极直流信号、因此我们能够将每个差分输入引脚连接到连接到机箱接地的电容器。  这可确保系统始终具有指向同一接地和系统接地的基准。

    如下所示:

      

    感谢您的支持