我正在尝试使用测试模式来验证 AFE 的输出。 我想通过 ILA 检查输出数据、时钟如下所示:ILA clock = 280MHz AFE input clock = 10MHz 它已设置为14bit 1X 串行化。
在切换模式中、正如数据表中、我们可以看到数据在 DCLK 的中心发生变化。 然而、在 RAMP 和 SYNC 中、观察到一些数据在 DCLK 边沿发生变化。 潜在的问题和解决方案是什么?
1)同步模式 (工作错误)
2)切换模式(效果良好)
3)斜坡模式 (工作错误)
我检查了电源电压和 ADC_CLK
电源电压正常、 ADC_CLK 也正常(下图)
这些是我的寄存器设置值。
硬件复位
寄存器1,值14
等待100us
寄存器41,值8000
寄存器42,值8000
等待100us
寄存器41,值0000
寄存器42,值0000
注册3,值2010
寄存器4,值0001
是否有任何解决方案或潜在问题?
谢谢!