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[参考译文] DLPNIRNANOEVM:来自 DLP NIRscan Nano GUI 的强度与光谱功率分布

Guru**** 649970 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/dlp-products-group/dlp/f/dlp-products-forum/1040150/dlpnirnanoevm-intensity-vs-spectral-power-distribution-from-dlp-nirscan-nano-gui

器件型号:DLPNIRNANOEVM

大家好、

我使用的是 TI DLP NIRScan Nano、并随附用于光谱提取的 GUI。 GUI 支持 将频谱强度导出到 CSV 文件。

我想知道这种强度到底是什么? 它采用任意单位(AU)、因此我不知道它的物理含义。  我想绘制频谱功率分布图(单位面积/波长的功率)、将其与一些已知频谱进行比较、但如果 已经以这种方式定义了强度、那么再次将其除以波长将毫无意义。

请有人引导我了解更详细的信息、这种强度是什么、单位是什么、以及如何从强度中获得物理相关数量。 具体而言、如果我将钨丝灯放在窗口的前面并测量光谱、如何变换强度以获得黑体光谱?

最好

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    您好、Andrew、

    欢迎访问 DLP 论坛、感谢您关注 DLP 技术。

    强度测量是 InGaAs 检测器信号的 A2D 输出。 它未针对 光的实际功率测量进行校准。 这就是为什么它是一个任意单元。

    DLPNIR Scan Nano EVM 不支持 功率密度测量。 目标应用是 将材料的 NIR 吸收与参考光源进行比较。  

     为了测量实际频谱,必须将数字输出与已知宽带 NIR 源进行比较。 我不知道有什么其他方法可以实现这一目标。  

    此致、

    Vivek

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    尊敬的 Vivek:

    非常感谢您的见解。 如果我理解正确、如果我知道钨丝灯功率密度频谱、并测量 NIR 扫描纳米的数字输出、这是否会为我提供一个映射功能、以便我可以使用 NIR 扫描纳米测量实际功率密度频谱? 或者是否需要考虑其他一些注意事项?  

    最好

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    Andrew、

    团队目前的日志记录相当备份。 我们应该能够在几天内收到您的回复。

    此致、

    Philippe

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    尊敬的 Andrew:

    很难说这种办法会起作用。  需要注意以下几个问题:

    1.数字响应曲线-它可能不是线性的; 您需要多个点。

    2.您将多次参考此类已知信息、以验证测量结果是否准确。

    3.温度和湿度确实会影响 InGaAs 检测器输出。

    此致、

    Vivek

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    尊敬的 Vivek

    非常感谢您的回答。 我不明白您对数字响应曲线的理解是什么、我需要多个点? 您是说我需要测量多个光谱、然后求一些平均值、还是其他一些?

    我尝试将钨灯泡放在 蓝宝石玻璃窗的前面、然后拔下照明模块。 我从多个光谱中获得的强度彼此相当一致。 但其形状与黑体光谱不同。 相反、它在某种程度上类似于基准信号。 我是否需要考虑参考光谱以及处理强度光谱?

    温度和湿度对输出的影响是非常大还是稍微小? 如果存在小误差(即5-10%)、则不是大问题。

    我看到有几个问题、但我真的很好奇如何使用 DLP NIRCAN 来测量发射源的发射频谱? 我想您从 DLP NIRCAN 获得的强度不是仅仅是每个波长箱的光子计数、还是?  很抱歉保持抖动、但我想了解如何从 DLP NIRCAN 获取频谱功率分布、以及是否可能(即使不是100%精确)。

    祝你一切顺利、

    Andy

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    Andy、

    引用 Vivek 的上述消息、" 为了测量实际频谱、您必须将数字输出与已知宽带 NIR 源进行比较。 我不知道有什么其他方法可以实现这一目标。"

    我知道、您需要收集更多数据点、因为直接线性内插可能无法为您提供准确的结果。 在您的情况下、我建议谨慎操作并尽可能分析已知良好的参考。 我认为这将有助于确定您的许多问题(例如温度和湿度等因素的可变性)的基准。

    此致、

    Philippe

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    非常感谢 Philippe 和 Vivek、  

    我想我现在更清楚地理解你的意思。 由于我拥有稳定的宽带 NIR 源、因此收集大量数据点不是一个问题。 唯一的问题是、如果从 NIRCAN 的强度频谱中获取 SPD 的映射或转换函数仅是输入信号的函数、 或者是否需要考虑一些其他参数(例如波长、参考频谱等)、即 NIRCAN Nano 本身固有的参数或其扫描和分析输入信号的方式)。

    让我更具体一点,并举例说明我在解释时遇到问题的扫描。 我希望您能帮助我了解这里发生的情况。

    首先、如果我拔下照明模块并在采样窗口的前面放置一个普通红外二极管(特性中的峰值为950nm)、我将得到以下频谱:

    因此、这看起来符合预期。 但是、当我使用稳定的钨卤 NIR 源照射在采样窗口时、频谱已明确定义、我得到以下结果:

    绿色点是已知钨卤素源的标准化光谱功率分布、它与源温度下的黑体非常相似、峰值约为1000nm。 但 NIRCAN 强度响应 完全不同。 它实际上与存储在 Tiva EEPROM 上的基准信号非常相似、如下所示:

    那么、我的问题是、如果我只是在已知源和 NIRCAN 强度之间进行线性变换以获得映射函数、 或者、在将强度与已知来源进行比较以实现变换之前、我是否还应考虑其他一些操作(即、用波长除法、用基准信号除法等)? 这正是困扰我的原因、特别是因为我从 IR 二极管获得的强度信号不应随着任何变换而发生重大改变、因为它已经看起来应该如此。

    最好  

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    Andrew、

    您的方法可能是一个良好的开端。 我将与专家联系、向您解答您可以进行哪些其他预处理来获得更准确的结果... 感谢您耐心等待、直至我们得到完整的回复。

    此致、

    Philippe

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    您好、Andrew、

    [引用 userid="4964" URL"~/support/dlp-products-group/dlp/f/dlp-products-forum/1040150/dlpnirnanoevm-intensity-vs-spectral-power-distribution-from-dlp-nirscan-nano-gui/3853305 #3853305"]。 但是、当我使用稳定的钨卤 NIR 源照射在采样窗口时、频谱已明确定义、我得到以下内容[/引述]

    DLPNIRScan Nano 使用   来自 Hamamatsu 的 G12180-010A InGaAs 检测器。  观察到的曲线是由于探测器的光电灵敏度 NIR 波长与源差异的组合。

    [引用 userid="4964" URL"~/support/dlp-products-group/dlp/f/dlp-products-forum/1040150/dlpnirnanoevm-intensity-vs-spectral-power-distribution-from-dlp-nirscan-nano-gui/3853305 #3853305)]因此,我的问题是,如果我只是在已知源和 NIRScan 强度之间进行线性转换以获取映射函数,是否可以。 或者、在将强度与已知来源进行比较以实现转换之前、我是否还应考虑其他一些操作(例如、用波长进行除法、用基准信号进行除法等)?[/引述]

    很难回答、因为我们 不知道所有组件的响应/灵敏度曲线。 如果您有足够的已知/参考源、则可以使用3个或更多源来创建 模型、然后通过测量其他已知源来验证/微调模型。 这些参考源需要在不同波长下具有不同的强度、而不是相同类型的源的不同单位。

    希望这对您有所帮助。

    此致、

    Vivek

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    尊敬的 Vivek:

    非常感谢您的宝贵见解、确实非常有帮助。 DLP NIRCAN 中的光电二极管具有非常有趣的光敏性曲线、这可能有助于我们解读宽带 NIR 频谱。 我想 DLP NIRCAN 在对强度信号进行去卷积时不会考虑这种光敏性曲线?

    我认为这种光敏性曲线与我们测量的宽带 NIR 频谱的形状有很大关系。 但是、正如您还指出的、还有其他组件(例如 DMD、光学器件)可能会改变频谱的形状。 如果您进一步了解 DLP NIRCAN 中各种组件的光谱响应、我们非常感谢您能分享这些信息。 这将有助于我们创建尽可能精确的模型来解释我们的光谱。

     祝你一切顺利

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    Andrew、

    谢谢你。 我们将在收到有关同一内容的反馈时通知您。

    此致、

    Philippe

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    您好、Andrew、

    感谢您的耐心等待。

    [引用 userid="49564" URL"~/support/dlp-products-group/dlp/f/dlp-products-forum/1040150/dlpnirnanoevm-intensity-vs-spectral-power-distribution-from-dlp-nirscan-nano-gui/3856037 #3856037"]我想 DLP NIRCAN 在对强度信号进行去卷积时不会考虑这种光敏性曲线?

    是的、典型应用用例是吸收性。 此类去卷积是非增值的、它们以比率抵消。

    [引用 userid="49564" URL"~/support/dlp-products-group/dlp/f/dlp-products-forum/1040150/dlpnirnanoevm-intensity-vs-spectral-power-distribution-from-dlp-nirscan-nano-gui/3856037 #3856037"]如果您有有关 DLP NIRCAN 中各种组件的光谱响应的更多信息,我们非常感谢您能与您分享这些信息

    我们没有请求组件的信息。  您最好将整个 EVM 单元视为包含多个培训数据的方框和模型行为。

    此致、

    Vivek

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    尊敬的 Vivek:

    非常感谢您提供的详细信息、它们对我们了解 NIRCAN 光谱非常有用。 但是、我有一个后续问题:能否找出 NIRCAN 中的透镜类型、即准直、聚焦和采集透镜的制造和模型? 我很好奇他们的 NIR 传输曲线 是什么样的。 我们怀疑 NIRCAN 内的光学元件会影响特定波长频带下的光谱形状、我们希望 将这种效应考虑在内、从而对入射光光谱进行建模。

    我们对光谱吸收没有太多的兴趣、在这种情况下、这些效应实际上并不重要、因为它们会抵消、正如您已经提到过的。

    好的、Andy

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    Andy、

    我不知道我们是否有可用的模型信息、但在下面有关此 EVM 的常见问题解答中、有大量有关各种镜头类型操作的信息:

    https://e2e.ti.com/support/dlp-products-group/dlp/f/dlp-products-forum/711696/faq-dlp-light-control---dlp-nirscan-and-nirscan-nano-faqs

    我希望这对您有所帮助。

    此致、

    Philippe