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器件型号:DP83867CR 各位专家:
你好。
客户使用寄存器0x09来生成测试模式、但是他们看到测试模式只在对 A 上生成。在对 B、C 上、 D 没有生成测试模式、通常在所有其他 PHY 上会生成测试模式为什么在所有 MDI 对上都生成默认模式、是否有注册表设置告知我们可以生成1000Base-T 测试模式的所有对?
请提供建议。
此致、
乔塞尔
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各位专家:
你好。
客户使用寄存器0x09来生成测试模式、但是他们看到测试模式只在对 A 上生成。在对 B、C 上、 D 没有生成测试模式、通常在所有其他 PHY 上会生成测试模式为什么在所有 MDI 对上都生成默认模式、是否有注册表设置告知我们可以生成1000Base-T 测试模式的所有对?
请提供建议。
此致、
乔塞尔
Josel、
请参阅器件产品页面 上的应用手册:https://www.ti.com/product/DP83867CR#tech-docs
此致、
Jason Lee
Josel、
我应该更具体一点; 请参阅 器件产品页面 https://www.ti.com/product/DP83867CR#tech-docs 上技术文档下的应用手册 。 此外、您是否遵循了第8.4.2.1节中的扩展寄存器读取过程。 数据表中的其他信息?
此致、
Jason Lee