[FAQ] [参考译文] [常见问题解答]什么是局部放电、方法 A、方法 B1和方法 B2测试？

请注意、所有定义和参考均基于最新标准 IEC 60747-17

通过一系列测试来评估隔离器及其隔离栅的稳健性和可靠性。 这些测试是使用三种测试方法之一进行的。 每种方法使用的确切电压和时间间隔因所测试的参数和器件声明的隔离级别而异。

每种方法均由两部分组成、分别执行隔离测试和局部放电测试：

• 隔离测试–验证隔离器承受给定隔离电压的能力。
• 局部放电(PD)测试–验证绝缘是否不会因受控的局部放电而退化。

局部放电：

该测试是以下方法 a 和 b 测试的一个子集。 局部放电测试的目的是通过测量耦合器输出端的局部放电水平来验证耦合器输入和输出之间的绝缘性。

方法 a：

方法 A 是类型测试中使用的一种破坏性测试、也称为资质认证测试、由认证机构执行。 方法 A 也用于样片测试、该测试每3个月进行一次、由组件制造商完成并由认证机构审核。 此方法首先应用初始测试电压来仿真瞬态过压、然后进行局部放电测试。

过程：

1. 电压开始时远低于预期启动、并缓慢增加至指定的初始测试电压 VPD _{(ini) a}
2. 电压保持在 Vpd _{(ini) A}、时间间隔为 tini
3. 电压降至指定的局部放电电压 Vpd _(m)
4. 电压保持在 Vpd _(m)、时间间隔为 TM
5. 在 Time interval TM 期间测得的最大值被记录为局部放电幅度 QPD

TI 隔离器使用的额定电压和时间间隔可在器件数据表绝缘特性表的"测试条件"列下找到。

方法 b1：(常规测试=生产测试)

方法 B1在器件制造过程中的常规测试(也称为生产测试)中使用。 方法 B1测试与方法 A 类似、但在隔离测试期间施加了更高的电压、并且整个过程在较短的持续时间内进行。

过程：

1. 电压开始时远低于预期启动、并缓慢增大至指定的初始测试电压 VPD _{(ini) b}
2. 电压保持在 Vpd _{(ini) b}、时间间隔为 tini_、b
3. 电压降至指定的局部放电电压 Vpd _(m)
4. 电压保持在 Vpd _(m)、时间间隔为 TM
5. 在 Time interval TM 期间测得的最大值被记录为局部放电幅度 QPD

TI 隔离器使用的额定电压和时间间隔可在器件数据表绝缘特性表的"测试条件"列下找到。

方法 b2：

方法 B2与方法 b1类似、可在常规测试期间用作方法 b1的替代方法。 会进行隔离和局部放电测试、但这两项测试不会像方法 A 和方法 B1那样按顺序进行、而是会进行组合。

过程：

1. 施加 Vpd (ini、b)的电压并将其保持在 TST 的时间段内
2. 电压保持在 Vpd _(ini、b)、时间为 TST
3. 在 Time 间隔 TM (TST 的一个子集)内测得的最大值被记录为局部放电幅度 QPD

TI 隔离器使用的额定电压和时间间隔可在器件数据表绝缘特性表的"测试条件"列下找到。