This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] 长期存放

Guru**** 655270 points
Other Parts Discussed in Thread: CD4046B
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/logic-group/logic/f/logic-forum/1101143/long-term-storage

部件号:CD4046BPWR

大家好,团队

我计划将CD4046BPWR存放一段时间,超过 质量保证期。 本文档是否有助于考虑存储期间的可靠性?

长期存储后的组件可靠性

 

此外,在上述文档中,仓库的存储环境被描述为(<40°C和<MSL1 90 % 的存储条件(30°C / 85 % RH)更严格。 从以上内容和本文档的结论来看,我们能否解释在<40°C和90 % RH下存储可能不会影响产品的可靠性?

此致。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好,

    是的,这是有关长期存储TI IC产品的文档之一。

    在良好的条件下,我们的零件可以在使用前无限期存放。

    有关产品 保质期的详细信息,请参阅此页面 

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    感谢您提供有用的信息。

    但是,以下文档没有CD4046BPWR的结果,我应该参考哪些部分?

    长期存储后的组件可靠性

    半导体器件的长期存储评估

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    我不知道你的意思是什么。 您引用的文档是通用的-它不是特定于设备的。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    我担心文档中测试的产品与CD4046B之间的规格差异可能会导致测试结果的显著差异。
    例如,包装材料粘结方法或包装材料的差异是否对结果产生重大影响?
    请告诉我可以比较CD4046B和文档中测试的产品的哪些特征,以确定结果是否具有可比性。 MSL,包装,端子电镀? 如果您有任何其他规格需要考虑,请告知我们。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    听起来,您需要保证这种方法能够正常工作。 恐怕我不能提供。