[参考译文] SN74LVC1G11：与门：安全系统的功能安全时基故障率、故障模式分布

您好、Michael、

[引用 userid="551625" URL"~/support/logic-group/logic/f/logic-forum/1192825/sn74lvc1g11-and-gate-functional-safety-fit-rate-failure-mode-distribution-for-safety-system ]\n 此特定与逻辑门显示了出色的 MTBF 值、但我没有看到故障模式分析(FMD)报告。 我确实找到了一个适用于  SN74LVC1G08的器件、 这对于我的应用来说并不是很有希望。  [/报价]

如果我们要为 LVC1G11制作一个、您会发现它与您已经看到的 LVC1G08报告相同。 这些器件与所有其他 CMOS 逻辑门非常相似。

[引用 userid="551625" URL"~/support/logic-group/logic/f/logic-forum/1192825/sn74lvc1g11-and-gate-functional-safety-fit-rate-failure-mode-distribution-for-safety-system ]我想知道是否可以找到一个无故障的与门模式、该模式可能会将输出短接到 VCC。

不，不是我所知道的。 正如您所指出的、逻辑故障非常罕见、几乎每次我看到故障时、都是由我们客户的设计引起的、而不是器件的质量、制造或设计问题。 我们所有的现代逻辑都是使用单片器件、CMOS 以相同的方式构建的、没有"内置"冗余、隔离或特定故障模式。  我也不知道任何包含这些功能的逻辑门。

我所见过的最常见故障模式是由于电气过载而通过 ESD 保护结构对地短路、即 系统因电流过大或 ESD 事件而损坏。

为了实现逻辑安全、您最好的做法是将输入/输出电压和电流保持在数据表规格范围内、并使用系统级 ESD 保护端口。

如果您需要的器件具有更可控的结构和更多的测试、您可以将等级从 Q1提高到 EP 或 MIL。 但是、这两个等级都不能保证故障模式-它们只会降低因质量而过早发生故障的可能性。