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[参考译文] SN74HC86：四路双输入异或门 IC 的测试方法。

admin
Guru**** 2506475 points


请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/logic-group/logic/f/logic-forum/1245920/sn74hc86-test-method-for-quadruple-2-input-xor-gates-ic

器件型号：SN74HC86

我们公司投诉了交付组件 SN74HC86D 后的缺陷。 因此、我们想知道它的钳位二极管测试方法。 我们的飞探头测试仪使用了如图所示的方法。

在上面的示例中、我们在 U20-2上进行测试。 这种测试方法是否可能影响测量值或损坏元件 U19？

这是原始文件。

e2e.ti.com/.../ClamplingTest.pptx

提前感谢您。

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    TI__Guru**** 2506475 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    大家好、Tattep、

    您希望测试的损坏是什么？

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    TI__Guru**** 2506475 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    此钳位二极管测试用于测试引脚是否已正确焊接。 无法 检测 IC 上的任何损坏、除非损坏 影响引脚连接。 但是、我们的客户发现此组件不能正常工作、因此我们将帮助他们确保该部件不受此测试方法的影响。

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    TI__Guru**** 2506475 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    大家好、Tattep、

    我认为这不会导致器件出现任何问题。