This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] MSP430FR2532:CapTIvate 漂移和驱动屏蔽技术

Guru**** 654100 points
Other Parts Discussed in Thread: MSP430FR2532, OPA354
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/1160248/msp430fr2532-techniques-for-captivate-drift-and-driven-shield

器件型号:MSP430FR2532
主题中讨论的其他器件: OPA354

下午好!

我们最近将 MSP430FR2532整合到了设计中、并注意到电容数存在一些漂移(请参阅下图)。  对于提供的图表、我们使用电池供电设备、并每10分钟进行一次测量。   我们的应用使用传感器来测量长期(即多个月)变化(非 触摸)、因此 在动态重新校准传感器方面存在一定的犹豫。  

有些漂移并不令人惊讶(根据文档)、但我们想寻求有关如何减少漂移的资源或建议?

我们还尝试实施了一个驱动屏蔽、但我不确定它是否配置正确... 您是否有适用于驱动屏蔽应用的硬件/固件示例设计?

非常感谢!
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好!

    感谢您分享此问题。 我们将对此进行研究、并尽快返回给您。

    此致、

    Evan

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Kenton:

    这里似乎没有什么东西。  如此大的漂移将意味着温度的大幅变化。

    您没有说您使用哪种模式、因此我将假设您是自电容器。

    您能不能简单介绍一下该产品?  它是否是用于安装的便携式设备、例如壁上的恒温器?

    查看 CapTIvate 技术指南、设计章节、有关温度漂移的部分、并根据您的器件是第1代器件、漂移应为-2.6cnt /°C (自电容)或-2cnt /°C (互电容)。  

    从顶部的图表可以看出、计数从500变为470。  因此、根据我的假设、30个计数的变化将= 11.5C。  该器件位于何处时、它是否可能遇到过这么大的温度变化?

    接下来、重新校准出现的点看起来也不正确。  如果自上次校准以来 LTA 漂移了+/- 12.5%、则会进行重校准。 查看中间的图形、其中首次重校准似乎在~478计数时发生、那么下一个重校准在~ 485时没有意义。  LTA 必须高达540才能进行重校准。   

    进行重校准的原因还有两个:一个是通知 MSP 进行重校准、另一个是检测到负触摸。  我认为没有任何消极影响的证据,因此这将排除这种情况。  您是否有与 MSP 进行通信并向其发送命令的主机 MCU?

    第三个图形似乎是不同的传感器(接近传感器)、因为随着时间的推移、与其他两个图形相比、它的计数增加。

    对于驱动屏蔽、这不需要代码。  《技术指南 》中有一节简要介绍了这一点、并显示了在由极快的 OPA354放大器驱动屏蔽电极时执行的一些测试。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    非常感谢您的回复、Dennis!

    根据您的回答、以下是一些附加信息:

    • 正确、我们使用的是自电容器。
    • 您可以忽略重校准;这些重校准点是由外部命令引起的(很抱歉、未能提前说明)。
    • 我们处于标准 室温环境中、因此我们可以安全地排除任何剧烈的温度变化。
    • 所有三个图形均来自类似的传感器校准(除计数/增益值外、如图所示)。  但是…
      • 前两个图形来自传感器位于平坦表面上的器件。  我们将器件放置在偏僻的地方、以便它们不会受到干扰。
      • 第三个图形来自垂直安装的器件(我们想知道传感器是否缓慢地从安装表面脱落)。  但是、我们看到了与其他器件类似的"向上漂移"。  在所示的测试期间、这也不会受到干扰。
    • 关于从动护罩... 我们 不使用放大 器、而是将两个"元件"分组为同一"传感器"/"时间周期"组的一部分(其中一个是屏蔽层)。  这似乎是正确的吗?

    再次感谢!

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Kenton:

    对于驱动屏蔽、是的、在大多数情况下、使用具有相同测量周期的另一个引脚将起作用。  如果屏蔽层的电容远高于电极(传感器)、它可能无法有效工作。  换言之、驱动屏蔽层更大电容的引脚与驱动电极电容的引脚相比、完全充电可能需要更长的时间。

    好的、现在我们确认您使用的是自电容、并且这一切都发生在室温下、前两个图的向下方向(计数更低)将指示传感器测量的电容正在增加、类似于您触摸传感器时。  第三幅图随着计数的增加、告诉我传感器正在测量下降的电容。  但有趣的是、对于自电容器、DOI (所需方向)会下降。  这意味着当触摸传感器时、计数值应低于 LTA。  在这种情况下、漂移会导致计数高于 LTA、如果计数达到负触摸阈值、LTA 将被视为"负触摸"。

    您能描述一下您正使用什么作为传感器吗?

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    谢谢、Dennis!

    我们无法在此处(出于业务原因)分享我们设计的完整详细信息。 是否可以与 TI 进行私下交谈、然后在此处为社区发布一般性发现?

    再次感谢!

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Kenton:

    我会向 Dennis 发送一封私人邮件。  

    此致、

    Evan

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    当然、Evan!  我向 Dennis 发送了一个朋友请求、如果他愿意、我希望联系他。

    再次感谢您的帮助!

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Kenton:

    我已接受您的朋友请求。