在生产了超过500k 器件的产品上出现此问题(没有明显的 MSP430问题)。
我们从生产中得到报告、某些器件(我们目前正在获取确切的数字)存在低功耗问题(未进行软件修改)。 到目前为止，已分析了2个具有此问题的 IC：
第一个 IC
在使用任何 CapTIvate 函数之前、一旦启用 CapTIvate 块(使用 MAP_CAPT_POWEROn()函数)、泄漏就会立即开始。
这会产生127µA μ m 泄漏。 在不受影响的器件上、启用 CapTIvate 块时不能测量电流(0.1µA μ A 灵敏度)
供参考：库版本
//！ 版本1.80.00.30
//！ 2019年3月26日发布
在反汇编时进行检查、此 MAP_CAPT_POWEROn()函数仅设置寄存器0xA00的位0
IC 标记：
MSP430 FR2675 TI238A ANXT G4
第二个 IC
它在152µA 0.7µA μ A 的功耗范围内(在任何其他良好的 IC 上)、使用最少的代码进行了测试。
最小初始化(将 I/O 设置为所有 I/O 下拉)以低功耗结束：
CAPIE=0；
while (1)｛
__no_operation()；
PMMCTL0 = 0xA500；
_bis_SR_register (LPM4_BITS)；
｝
//结束背景循环
MSP 提取并安装在具有以下特性的电线上：
32：DVCC - 3.3V PSU
31/33：DVSS - GND PSU
20：VREG - 1µF Ω、带 GND (直接在焊盘上)
1：RST -至3.3V
2：TEST -至 GND
参考"良好"MSP is0.7µA
该坏 IC 为152µA μ A。 IC 标记：MSP430 FR2675 TI248A AFQC G4
