[参考译文] LM5066：无负载电源

 在以下情况下、设计问题可能会导致：

• VDD 引脚过载（例如，在没有限流电阻器的情况下，用于上拉过多的外部信号（如 ADR0–ADR2、PGD 或 SMBus 引脚）、汲取 30mA 并触发内部电流限制）。
• VDD 上的旁路电容器不存在、不正确（例如，不是陶瓷电容器或太小）或放置不良、从而导致不稳定。
• UVLO/EN 或 OVLO 引脚配置错误（例如，UVLO/EN 接地，禁用器件）、导致无法正常启动、但这通常不会将 VDD 降至 0.21V
• VIN 上的高频瞬变（例如，来自 PCB 电源的瞬态）会中断稳压器、如果 VIN 处不存在 TVS 二极管、则添加一个 TVS 二极管（例如 5.0SMDJ60A）。

低栅极 (1.2V 而不是~VIN + 12V、或总共~40V) 和 OUT (1.1V 而不是 28V) 可能是低 VDD 的下游效应、因为它为内部逻辑和用于栅极驱动的电荷泵供电。 如果 VDD 无法达到其 POR 阈值 (~4.1V)、则器件将无法正确启用、同时保持 GATE 低电平并关断外部 MOSFET（从而使 OUT 处于低电平）。   

• 验证 1μF 陶瓷旁路电容器是否存在、并使用短布线直接连接到 VDD 和 GND。
• 检查 VDD 上的电流消耗（如果有，断开外部负载）并确保 VIN 稳定（不会低于 10V）

1. 检查 VDD 至 GND 布线 ：
   • 测量 VDD 引脚到 1 µF 电容器和 GND 的布线长度。 电感低时保持小于 1cm（宽布线或通孔连接到接地平面）。 使用放大镜检查是否存在焊桥。
   • MΩ VDD 和 GND 之间的电阻（应大于 1k Ω）。 低值表示短路。
2. 验证 VDD 加载 ：
   • 断开与 VDD 的外部连接（例如，ADR0–ADR2、PGD、SMBus 的上拉电阻）。 使用万用表测量 VDD 电流；无负载时应小于 1mA。
   • 如果使用了上拉电阻器、请确保电阻器> 10kΩ 以限制电流。
3. 检查 UVLO/OVLO 配置 ：
   • 验证 UVLO 和 OVLO 电阻分压器（引脚 6 和 7）。 对于 28V VIN、UVLO 应设置为低于 28V（例如，默认值~8.2V、或根据数据表通过电阻器进行调节：V_UVLO = 1.25V×(R1 + R2)/R2)。 OVLO 应高于 28V（例如，默认值~100V）。
   • 如果 UVLO 接地或 OVLO 过低、则器件不会启用。 使用万用表测量针脚电压。
4. 评估 VIN 瞬态 ：
   • 使用示波器监测 VIN 是否存在高频噪声 (>100kHz) 或快速瞬变（（<VIN 1µs 上升）。 查找低于 10V 的突降或接近 40V 的尖峰（TVS 钳位电平）。
   • 如果存在噪声、则添加一个与 VIN 串联的 10 µF 陶瓷电容器或铁氧体磁珠（例如，BLM21PG221SN1）。 确保 0.1 µF 电容器靠近 VIN 引脚 (<1cm)。
5. 测试芯片/安装问题 ：
   • 按照 ESD 预防措施（例如接地腕带）、使用新芯片替换 LM5066。 重新测试 VDD、GATE 和 OUT 电压。
   • 如果 VDD 保持低电平、请使用热风返修台进行回流焊或更换芯片、确保焊接清洁。
6. 监测故障 ：
   • 检查 FAULT 引脚（低电平表示故障）并读取 SMBus 状态寄存器（如果使用）以识别过流、热或 UVLO 故障。

结论

低 VDD (0.21V) 可能是由于短路（焊接问题）、芯片缺陷或 VDD 负载过大而导致的、并且 VIN 瞬变或 UVLO/OVLO 错误配置为次要可能性。 有问题的 VIN 频率包括>100kHz 或快速瞬变 (1µs)。 首先检查 VDD UVLO-GND 布线和电阻、然后验证负载和 UVLO/OVLO 设置。 如果未解决、请更换芯片

Sunilbahi

感谢您的详细答复。 运行一些检查后、发现项 2 是罪魁祸首。 我们使 VDD 导轨过载。 ADR0-2 具有多个低阻抗的上拉电阻器。 移除电阻器后、电路按预期运行。

再次感谢您的帮助！

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