Other Parts Discussed in Thread: BQ27Z746, BQ27Z561

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器件型号： BQ27542EVM
主题中讨论的其他器件： BQ27Z746、 BQ27Z561

测试目的

问题

1. BQ27542 是否支持在突然的温度变化下进行 SOC 验证？ 传统测试是：在室温下充满电、在低温下放电 之间的比较 在低温下静置 2~4 μ s 小时、用于验证 SOC 跳变。
2. 如果 bq27542 不支持它、那么 bq27z561 或 bq27z746 呢？
3. 什么是 TI 推荐的测试方法 ？

基本电池信息

• 电池类型:聚合物电池
• 容量：2910mA
• 配置：1S1P

测试条件

• 200mA = 0.07C
• 1000mA = 0.34C

测试程序

1. 在室温下、采集 10 个样本、然后分别充电至 20%/40%/60%/80%/100% SOC 。
2. 将样本放在温度室中 –5°C（在–5°C 处未休眠） 、然后在 200mA 或 1000mA 处持续放电。
3. 完全放电 (0% SOC) 后、将样本返回到室温并静置 2 小时 。
4. 监控 SOC 变化曲线 正常运行。

通过标准

1. 放电曲线上的 SOC 跳变应为 误差在 5%以内 。 记录实际 SOC 跳变值。
2. 放电容量≥ 室温容量×初始放电容量%× 80%
3. 能力 反弹 在室温下恢复 2 小时后。