“线程: 测试, BQSTUDIO”中讨论的其它部件
大家好,团队
客户提出的问题可能需要您的帮助:
使用 BQ40Z50-R1并测试 OTC 保护和恢复时,PF_CFET 引发异常。
环境:
使用 BQ40Z50-R1 / 2S1P。 电离室将温度升高到65度,确认 OTC 升高,然后将温度降低到50度,以确认电池恢复。 并继续使用充电电机(8.7V/0.5A)充电并确认无泄漏电流。
以下是日志文件和 GG 文件:
请帮您检查此案例? 谢谢。
此致,
樱桃
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大家好,团队
客户提出的问题可能需要您的帮助:
使用 BQ40Z50-R1并测试 OTC 保护和恢复时,PF_CFET 引发异常。
环境:
使用 BQ40Z50-R1 / 2S1P。 电离室将温度升高到65度,确认 OTC 升高,然后将温度降低到50度,以确认电池恢复。 并继续使用充电电机(8.7V/0.5A)充电并确认无泄漏电流。
以下是日志文件和 GG 文件:
请帮您检查此案例? 谢谢。
此致,
樱桃
您好,Wyatt,
感谢你的帮助。
如果漏电电流大于20mA (OTC 触发),他们发布了错误的日志,请参阅下面的正确日志:
此外,客户希望知道,无论 校准如何,OTC 都会触发小电流(即使再次校准电流/CC 偏移,也至少存在10mA 的小电流)。
谢谢,此致,
樱桃
您好,Wyatt,
目前,已确认只有在高温(55度以上)下才会出现此泄漏电流。
[引用 userid="410823" url="~ë/support/power 管理-group/power 管理/f/power 管理-forume/1081987/bq40z50-R1-pf_CFET-rafer-for-the-OTC-test/4007504#4007504"]校准的步骤是什么? [/引用]校准时已连接-2000mA 放电,并验证实际电流是否从-2000mA (@25度)中拔出。
除了高温(触发保护后)之外,是否还有其他任何因素导致此问题发生?
谢谢,此致,
樱桃
Cherry,您好!
因此,在室温下没有错误的电流,但只有在较高的温度下? 我唯一能想到的可能导致电流流动的是泄漏电流,但>20mA 实际上是一个非常大的量,仅用于泄漏。 电池的数据表应该对某些泄漏进行规范,您可以检查是否可能发生泄漏。 我认为他们应该重新评估校准。 它们应该应用一些不同的电流,包括较小的电流,以查看校准是否确实正常。 他们还可以尝试使用较低的电流进行校准,以查看这是否对某些人有帮助。 他们是否使用直流电源和 BQstudio 进行校准? 或者他们是手动执行的?
谢谢,
亚历克斯·M.
你好,Alex,
感谢您的支持。
[引用 userid="492703" url="~ë/support/power 管理-group/power 管理/f/power 管理-forume/1081987/bq40z50-R1-pf_CFET-high-for-the-OTC-test/4011272#4011272"],因此在室温下没有错误的电流,但仅在更高温度下?]是的,经过多次重新校准后,只有在温度保护 OTC 时才会看到泄漏电流,但泄漏电流将降低到大约8mA~10mA。
[引用 userid="492703" url="~ë/support/power 管理-group/power 管理/f/power 管理-forume/1081987/bq40z50-R1-pf_CFET-ged_for-the-OTC 测试/4011272#4011272">他们是否使用 DC 电源和 BQstudio 进行校准? 或者他们是手动执行的?使用托架拉动2.0A + BQ 工作室进行校准。
谢谢,此致,
樱桃
Cherry,您好!
他们是否可以使用电源而非电池进行测试? 如果他们这样做,他们可以排除自我释放。 他们还可以读取电源的电流,以查看电流是否为正极或与校准相关。 如果他们确实看到电源上的电流,那么我们将确信系统中有一些部件在供电。 在这种情况下,我建议调查辅助保护器/保险丝电路,看看其中一个电路是否有电流。 奇怪的是,您看到的是正电流,这很可能与您看到的是这些电流是否消耗/释放过的电流(我希望看到负值)不符。
我唯一的另一种担心是,可能有一些部件对热量反应不好。 要使3mohm 感应电阻器测量10mA,整个感应仅需要30uV。 请告诉我他们是否可以执行电源测试/结果如何。 这将缩小可能性,根据结果,我们可以进一步调查。
谢谢,
亚历克斯·M.