This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[FAQ] [参考译文] [常见问题解答]集成保护驱动功能可监测多少个 FET?

Guru**** 651100 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ28Z610
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1121240/faq-how-many-fets-can-gauges-with-integrated-protection-drive

主题中讨论的其他器件:BQ28Z610

在许多高功率和高电池节数电池应用中、需要减少负载开关 FET 的 Rdson 以减少传导损耗。 实现这一目标的两种主要方法是并行添加更多 FET (请参阅本主题的指南)、或使用 Rdson 值较低的 FET。

这两种解决方案都增加了 FET 的组合栅极电容(CGS)。 因此、真正的问题不是监测计可以驱动多少个 FET、而是它可以以多快的速率驱动什么栅极电容。

使用固定驱动器、并使用以下公式:

I = C * dv/dt

我们知道、使用固定的 I 值时、dv/dt 值将与 C 呈线性反比关系。由于 dv/dt 是固定的、因此我们知道 dt 与 C 成正比。因此、主要问题是上升/下降时间。 请参阅 BQ28Z610数据表的以下部分作为示例:

 

为4.7nF 的电容指定了上升和下降时间。 根据前面的公式、我们知道、如果所有其他条件都保持相等、并且电容加倍、我们将期望上升和下降时间比指定的时间长一倍。

这里是一些与栅极电容相比的测量下降时间值。 正如预期的那样、它是一种线性关系。 在指定的4.7nF 下、下降时间约为78µs μ s、处于预期范围内。

总而言之、您可以驱动尽可能多的并联 FET。 但是、上升和下降时间以及 FET 导通和关断所需的时间(以及开关损耗)将会增加。 此外、对于非常大的 CGS 负载、您可能需要增加 PBI 电容、以确保 PBI/BAT 电压不会因驱动 FET 而下降。

如果您决定自己测量这些信号、请务必直接在 FET 的栅极上进行测量、并使用差分探头或数学函数来处理浮动基准。

电源培训视频:https://training.ti.com/search-catalog/field_language/ZH-CN?keywords=%E7%94%B5%E6%BA%90%E7%AE%A1%E7%90%86&start%5Bdate%5D=&end%5Bdate%5D=

电源培训小程序码

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    如果您对上述主题有任何相关问题、请使用"+提出相关问题"按钮创建新帖子。