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[参考译文] TLV62569:VIN 过压问题

Other Parts Discussed in Thread: TLV62569, TLV62565
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1116580/tlv62569-vin-over-voltage-issue

器件型号:TLV62569
主题中讨论的其他器件: TLV62565

您好、先生、

这是我们的电路、我们具有市场上的一些故障率、我们正在尝试调试、目前我们怀疑 VIN 上似乎存在潜在的过冲电压、从而导致 IC 损坏。

根据测量结果、您可以看到 VIN 过冲并跟随 PIN3 SW 节点、它可能通过 TLV625969的体二极管并导致 VIN (max)更高、过冲电压持续时间小于10ns、

有时我们可以看到输入电压超过6V, 这是可以预料的,还是这是一个问题? 如果预计会出现这种情况,TI 是否对 VIN 有此类行为的规范或标准? 如果这是一个问题、它似乎是 TLV62569 潜在问题、

请提供您的意见和建议。

谢谢。

条件: 输入电压:5.2V,输出电压:3.3V 和1.5V,负载:0.4A@3.3V ,0.2A@1.5V

通道2:TLV62569 VIN (U3.4)

CH3:TLV62569软件(U3.3)

Ch4: +5VE

CH1:+5VE

通道2:TLV62569 VIN (U3.4)

CH3:+3.3VE

通道4:TLV62569软件(U3.3)

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    您好 Vincent、

    感谢您的提问。

    只要在脉冲持续时间小于10ns 的情况下将 SW 引脚电压过冲限制在9V 以下、则该值在规格范围内(如数据表中所示)。 对于 VIN、您能否共享超过6V 的波形? 请在图中包含 SW 引脚电压。

    请提供以下各项以更好地了解问题。

    1. IC 在什么条件下会发生故障(稳态、上电、断电、低温或高温)? 最终客户是否会发生这种情况?
    2.您是否能够重复实验中的 IC 故障?
    原理图显示的是 TLV62565而不是 TLV62569。 哪款器件是正确的? 您还能分享3.3V 电压轨的原理图吗?
    4.是否使用了3.3V 和1.5V 电源轨 TLV62569? 两个 IC 是否同时发生故障?
    5.您能否分享3.3V 和1.5V 电源轨的 PCB 布局屏幕截图?

     

    此致、

    Excel

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    您好、Excel、

    感谢您的回复、我回答了您的以下问题、

    这个问题来自市场(我们的最终用户)、IC 在稳态时出现故障、但在睡眠模式和工作模式下的功率电流不同、我们

       已确认没有发热或温度问题。

    到 目前为止,我们在实验中不能重复同样的问题。

    3、 原设计采用 TLV62565、但由于材料短缺问题、我们自去年年底起改为 TLV62569、两者都兼容、我们

      只需 在 BOM 中添加 TLV62569作为第二个源、但不要更改原理图。 目前、故障问题出在 TLV62569上、随附的文件是我们的电源图。

    我们使用 的是3.3V、1.5V 上的 TLV62569。 2.5V 和1.1V、不同电路板上 IC 的故障数量不同、例如、我们同时出现3.3V 和1.5V 故障

       但 某些电路板仅在3.3V 时发生故障。 较高的故障率为1.5V、我们在故障 IC 上看到 TLV62569 Vin 引脚对地短路。

    随附的文件包括原理图、3.3V 和1.5V 布局和波形捕获。

    TLV62569 sch_vayout_waveform

    BTW、我们已按照 TI 的文档 slva494a.pdf 进行测量。

    现在有一点紧迫,请帮助提供意见和建议。

    谢谢。

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    您好 Vincent、  

    感谢您共享相关文件。

    原理图和 PCB 布局看起来不错。 我在共享波形上看不到任何奇怪的行为。

    您能否在启动阶段共享 Vin 波形? 可能存在超过绝对最大额定值的电压过冲。

    顺便说一下、您能恢复到 TLV62565吗? 与 TLV62569中的6V 相比、它的绝对最大额定值为7V。

    此致、

    Excel

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    您好、Excel、

    我们可以确认 Vin 的启动阶段没有过冲、我认为 Vin 的纹波(或过冲)是继 SW 转换之后出现的

    非常接近 Vin 最大额定值、请帮助提供有关以下问题的一些说明、

    1. Vin 为何跟随软件的转换? 这是意料之中的吗?

    由于  在转换期间 SW 的过冲在 PFM 模式下为高电平、因此 Vin 接近 6V 额定值、即使在很短的时间内也有可能超过该值

      周期(1~3ns)、 这是否仍然安全或存在问题? 为什么?

    我们要求提供更多详细信息是因为我们需要评估市场风险是如何的、因为如果是、我们现在的市场上有50K 个产品

    预期(Vin 遵循 SW 的转换)安全、我们必须转向其他方向。

    谢谢。

    CH1;5V 电源

    CH2:U3的 Vin (TLV62569)

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    尊敬的 Vincent:

    王伊恩明天将与您联系、安排一个细节问题的会议。 我们希望这对您来说很好。

    此致、

    Excel

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    您好、Excel、

    是的、我收到了 Ian 的邮件、我已经发送了 WebEx 邀请、如果您没有收到他发送的邀请、请通知我、谢谢。

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    尊敬的 Vincent:

    我收到了会议邀请。 明天见。

    此致、

    Excel

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    您好、Excel、

    感谢您的文件和支持、我们现在已转向其他方向、我将关闭此案例。

    谢谢。

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    您好、Excel、

    再次需要您的帮助、我们还有一个来自客户的问题、我想征求您的意见。

    目前、我们有10个故障 TLV62569 IC、我们测量了 VIN 引脚到 GND 和 SW in 到 GND 的电阻、结果如下。

      - 10个故障 IC 中的 SW 引脚对地短路

      - Vin 引脚在10个故障 IC 中的2个上具有短路 GND (这意味着 Vin 和 SW 引脚上有2个故障 IC 已损坏)

    由于大多数损坏都在 SW 引脚上、并且根据我们上次会议的讨论、可能的根本原因可能来自交流电源之外

    (电源环境)、客户问:

     1.如果从交流电源外部并通过电路板到 TLV62569 Vin 出现尖峰,是否会导致 SW 引脚损坏而不是 Vin?

     2. 您是否认为有其他可能的根本原因会导致 SW 引脚损坏,但不会导致 Vin 损坏?  

    我的想法是、这是可能的、因为如果 Vin 的电压更高(从尖峰之外)、SW 引脚电压将更高、并且还会受到 FET 的过冲

    开关本身、Vin 和 SW 引脚的交流最大额定电压是相同的(最大 9V、<10ns)、SW 引脚的故障率可能高于 Vin。

    示例 根据我们的测量结果、FET 过冲本身约为1.72V、如果 Vin 有8V 尖峰输入、SW 引脚可能具有8V + 1.72V = 9.72V

       在这种情况下、如果尖峰小于10ns、则 Vin 应该正常、但 SW 引脚将损坏、因为无论发生什么情况、它已经超过了9V 最大值

       持续时间仍然< 10ns。

    请提供您的意见、谢谢。

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    尊敬的 Vincent:

    Vin 的增加最终会导致更高的 SW 引脚尖峰、该尖峰可能会超过9V 和10ns 的绝对最大额定值。 因此、我同意您的评估。

    如果 TLV62569的 VIN (>9V)出现过压、则会损坏 IC 最弱的部分。 而且、低侧 FET 电路的一部分可能会首先由 Vin 偏置、从而导致 SW 和 GND 引脚短路。 因此、故障机制在某些器件中未显示短路的 Vin 和 GND 引脚。

    希望我能回答您的问题。 如果您需要 我们的其他信息、您可以向 Ian 发送电子邮件、我们可以直接通过电子邮件进行讨论。

    此致、

    Excel

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    尊敬的 Vincent:

    您对此主题还有其他疑问吗? 如果需要、我们可以安排一个凹口。

    如果没有、请单击"已解决"按钮以关闭该主题。

    谢谢你。

    此致、

    Excel