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[参考译文] BQ76952:BQ76952 ESD 测试失败

Guru**** 654100 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ76952, TIDA-010208
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1126286/bq76952-bq76952-esd-test-fail

器件型号:BQ76952
主题中讨论的其他器件: TIDA-010208

你(们)好

客户使用他们设计的 BQ76952板进行测试。 它们使用 非接触式±15kV 来测试 CAN 通信端口、并找到8。 9. 10针脚损坏。

总共测试8个、所有测试都有 相同的现象。

如何改善此问题?

谢谢

星号

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    尊敬的 Star:

    它们是否使用连接到电路板的电池进行测试? 引脚8、9、10是 BQ76952上的所有电芯引脚连接、这很奇怪、因为它们在 CAN 端口上测试 ESD。 我可以帮助查看他们的原理图、看看是否有任何明显的问题。

    我对 BQ76952 (https://www.ti.com/lit/an/sluaa15/sluaa15.pdf )进行了测试,Ryan Tan 也对 TIDA-010208进行了测试,TIDA-010208是一种使用 BQ76952的参考设计。 我测试了超过+/- 15kV 的电压、没有任何问题。

    此致、

    Matt

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    您好、Matt

    感谢您的回复。

    已连接 BQ76952和 MOS 器件原理图。

    请提供一些建议。

    谢谢

    星号

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    嘿、Star、

    Matt 今天不在办公室。 他将能够在明天提供一些见解。

    谢谢、
    Caleb

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    尊敬的 Star:

    是否对连接到电路板的电池进行测试? 我在您的回复中没有看到这方面的答案。 电路板上的任何组件是否损坏?

    我确实在原理图中看到了一些问题、但这些问题可能与 ESD 测试失败无关:

    • Regin 引脚电容应为22nF。 图像中的值看起来是22pF。
    • 电池输入电阻器(VCX 引脚)的最大电阻值为100欧姆。 原理图中显示了200欧姆。
    • CP1引脚电容器可能需要更大(2.2uF)、因为并联的 FET 太多。
    • 在我们的硬件上、我们在 PACK+和 PACK-之间以及跨保护 FET 使用 ESD 保护电容器

    此致、

    Matt

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    您好、Matt

    感谢您的回复。

    他们使用电路板上的电池进行了测试、未发现 组件损坏。

    谢谢

    星号

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    尊敬的 Star:  

    我不确定这些特定引脚是如何损坏的、但我建议它们遵循我们在 EVM 和 TIDA-010208参考设计中使用的 ESD 保护指南。 本应用报告也可能对 您有所帮助:https://www.ti.com/lit/an/slua368/slua368.pdf 

    • 在保护 FET 上以及 PACK+和 PACK-之间使用电容器。 一些用户还使用 TVS 二极管。
    • 如果 SCL 和 SDA 引脚暴露在电路板或封装外部、请使用 ESD 保护组件和火花隙。
    • 请遵循上面链接的应用手册中的布局建议。

    我还建议更正我在上一篇文章中提到的原理图(Regin CAP、VCX 引脚电阻器、CP1电容器)。

    此致、

    Matt