[参考译文] UCC27517：施加到 IN+引脚的噪声

admin

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1135783/ucc27517-noise-applied-to-in-pin

器件型号：UCC27517

您好！

我想向您询问有关 UCC27517DBVT 器件的信息。
我们将检查此器件的 IN+(3引脚)和 GND (2引脚)之间的短路。
(问题)
如果在 IN+和 GND 之间施加所连接的波形、器件是否会损坏？
由于器件的电阻为 HBM4kV、如果附加波形中施加的噪声是器件击穿的原因、那么它更有可能是绝缘击穿而不是热击穿？
波形的上升时间为几纳秒、一个脉冲的宽度短至不到20ns、因此我不认为应用的热量高达 HBM4kV。

此致、

1 年多前

0 admin 1 年多前

TI__Guru**** 649970 points

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

Kaji-San、您好！

我同意、由于持续时间短、热量不会很高。这违反了输入的 absmax 规格、但仅在短时间内。通常很难确定会破坏输入 ESD 结构的时间和电压平衡。我确实找到了一个有关闩锁测试的主题、可能有点相关、但我不确定。我在这里附加了它、以防万一。

总之、我相信这样的波形会损坏器件。我认为可能会超出我们的闩锁规格、并导致引脚短路的事件。该器件的"A"版本具有更可靠的输入引脚、但由于这更多的是 ESD 类型事件、因此在这方面可能没有太大帮助。根据 ESD 结构和数据表额定值、我实际上会怀疑下冲脉冲更有可能成为损坏此器件的原因。我认为 HBM 没有电压下冲、因此与 CDM 相比可能更有意义。

谢谢、

Alex M.

电源管理（参考译文帖）

电源管理（参考译文帖）(Read Only)

[参考译文] UCC27517：施加到 IN+引脚的噪声